膜厚仪价格-一六仪器(在线咨询)-膜厚仪

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影响膜厚仪测量的的客观因素

声速选择错误。测量工件前，根据材料种类预置其声速或根据标准块反测出声速。当用一种材料校正膜厚仪后（常用试块为钢）又去测量另一种材料时，膜厚仪价格，将产生错误的结果。要求在测量前一定要正确识别材料，选择合适声速。

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膜厚仪是一种专属于量测镀铝膜厚度的仪表。它能快速、无损伤、精准地进行非导电基体上金属覆层厚度的量测，仪表配置专属的传感器，检测压力恒定，接触可靠，性能稳定，寿命长。该仪表体积小，传感器与主机设计合理，特别适用于现场量测。

膜厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，膜厚仪原理，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

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膜厚仪的影响因素有哪些

1、基体金属磁性质

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，测膜厚仪，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。

2、基体金属电性质

基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

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