测厚仪-一六仪器有限公司-光谱测厚仪

江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪

产品配置

***金属镀层测厚仪标准配置为：X射线管，正比计数器﹨半导体探测器，高清摄像头，高度激光，信号检测电子电路。

性能指标

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管，Be窗

标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等

X射线管：管电压50KV，管电流1mA

可测元素：CI～U

检测器：正比计数管

样品观察：CCD摄像头

测定软件：薄膜FP法、检量线法

Z轴程控移动高度 20mm

一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集，***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，电镀测厚仪，汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，膜厚测试仪，多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步，测厚仪，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。采用无损方法既不***覆层也不***基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。

江苏一六仪器 选择X荧光光谱镀层检测仪的四个理由：

1、无损检测

镀层工艺的高要求，让楔切法、光截法等传统的***性检测方法越来越不适用，市场上迫切需要一种快速、准确、无损的检测方法，而X射线荧光光谱法无非是excellent镀层无损检测方法。

2、强化品质管控

X荧光光谱镀层检测仪可以准确检测镀层的金属含量及厚度等数据，这是做好电镀品质管控的前提。

3、提升生产力

传统的检测技术，既耗时又耗人力，而X荧光光谱镀层检测仪可以很大程度上解放劳动力，且检测速度快、精度高，光谱测厚仪，这对提高电镀企业生产力、节约成本有很大帮助，从而带来更多的经济效益。

4、提升市场竞争力

X荧光光谱镀层检测仪不但可以帮助电镀企业提升劳动生产力，也可以帮助电镀企业在行业里保持excellent的竞争优势。