徐州电镀膜厚仪满意的选择“本信息长期有效”

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪

一六仪器 X荧光光谱测厚仪

镀层分析X射线荧光光谱特点

1.镀层分析快速、无损，对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟，分析精度高。

2.可测试超薄的镀层。

3.可测试多镀层，分析精度远远高于其他测量方法。

4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定，选择合适的对比分析样品，就可以准确的分析出合金镀层的厚度。

5.对于样品可进行连续多点测量，适合分析镀层的厚度分布情况，并可以对样品的复杂面进行测量。

6.对分析的多镀层每层之间的材料，要求有明显的区别

7.不可以测试超厚样品，普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。

8.可以对样品进行测试

9.属于对比分析仪器，测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um

选择Elite（一六仪器）X射线荧光镀层测厚仪理由：

根据IPC规程，必须使用整块的标准片来校正仪器，对于多镀层的测量，目前大多数客户购买的测厚仪采用的是多种箔片叠加测量校正，比如测量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu,因为测量点很小，测量距离的变化对测量结果有较大影响，如果使用Au，Pd，Ni三种箔片叠加校正，校正的时候箔片之间是有空气，并且Pb元素与空气的频谱重叠，以上会对测量结果产生较大影响，Elite（一六仪器）测厚仪有电镀好的整块的Au/Pd/Ni/Base标准片，不需要几种箔片叠加校正，可以确保镀层测量的准确性。阴极(也叫做:靶材)则多使用是钨(W)、铑(Rh)、钼(Mo)、铬(Cr)等材料。

2、采用微聚焦X射线管，油槽式设计，工作时采用油冷，长期使用时寿命更长。微聚焦X射线管配合比例接收能实现高计数率，可以进行测量。

3、Elite（一六仪器）WinFTM专用软件，具有强大且界面友好、中英文切换，多可同时测量23层镀层，24种元素，测量数据可直接以WORD格式或EXCEL格式输出、打印、保存。EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题镀层厚度分析仪的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。采用基本参数法（FP），有内置频谱库，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确的分析和测量。

4、 Elite（一六仪器）针对PCB（印制电路板）线路板上的镀层厚度及分析而设计的X射线荧光测厚仪（XDLM-PCB200/PCB210系列）具有以下特点：1）工作台有手动和程序控制供客户选择，2）采用开槽式设计和配置加长型样品平台，用于检测大尺寸的线路板。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。

江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪 一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度di检出限：0.005um

性能优势

精密的三维移动平台

的样品观测系统

***的图像识别

轻松实现深槽样品的检测

四种微孔聚焦准直器，自动切换

双重保护措施，实现无缝防撞

采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度

全自动智能控制方式，一键式操作!

开机自动退出自检、复位

开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样

关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦

直接点击全景或局部景图像选取测试点

点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果