镀层膜厚仪-一六仪器1-日照测厚仪

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪

X射线荧光测厚仪操作注意事项：

测厚仪操作时候需要注意的：

技术指标：

1 分析元素范围：Cl（17）-U（92）

2 同时可分析多达5层镀层以上

3 分析厚度检出限高达0.01μm

4 多次测量重复性高可达0.01μm

5测量时间：5s-300s

6 计数率：0-8000cps

测厚仪操作流程

打开仪器开关----在电脑上开启软件-------开高压钥匙-------联机------预热-----峰位校正------新建程式------选择相应的程式-----测试样品----出报告

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，镀层膜厚仪，24种元素 厚度检出限:0.005um

X荧光测厚仪相关注意事项：

　　仪器供电电压必须与仪器品牌上的电压一致.仪器三线插头必须连接到已接地的插座上。

　　本仪器为精密仪器，荧光测厚仪，配备的稳压电源.计算机应配备不间断电源(UPS)。

　　仪器应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。

　　为避免短路，镀层测厚仪，严禁仪器与液体直接接触，如果液体进入仪器，日照测厚仪，请立即关闭仪器。

　　本仪器不能用于酸性环境和场合。

　　不要弄脏和刮擦调校标准片，否则会造成读数错误。

　　不要用任何机械或化学的方法清除调校片上的脏物，可以用不起毛的布轻轻擦拭。

一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集，***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

能量色散X荧光光谱仪定义及原理

X射线荧光光谱仪是一种可以对多元素进行快速同时测定的仪器。试样受X射线照射后，其中各元素原子的内壳层（K，L或M层）电子被激发逐出原子而引起电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线荧光。每一种元素都有其特定波长的特征X射线。能散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）利用荧光X射线具有不同能量的特点，由探测器本身的能量分辨本领来分辨探测到的X射线。