镀层膜厚仪-测厚仪-一六仪器

江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪研发生产厂 一六仪器一liu品质 可同时检测多层材料镀层厚度(含有机物)及成分.操作简单方便.厚度含量测试只需要几秒钟，欢迎来电咨询!

仪器规格：

外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （长x宽x高）

样品仓尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （长x宽x高）

仪器重量 ：55kg

供电电源 ：交流220±5V

*** da功率 ：330W

环境温度：15℃-30℃

环境相对湿度：lt;70%

常见几种测厚仪的工作原理是什么？测厚仪，英文名称为thickness gauge ，镀层膜厚仪，是一类用来测量材料及物体厚度的仪表，在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度。那么我们常见的几种测厚仪的工作原理是什么？下面就来了解下：

1、测厚仪原理--激光测厚仪

激光测厚仪：此类测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，测厚仪，是一种非接触式的动态测量仪器。

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X射线测厚仪测量精度的影响因素

X射线源的衰减对于工厂现场的的标定过程中，随着使用时间的增加，灯管的曲线会发生变化，在同一电压下，随着使用灯管时间的递加，厚度偏差会越来越大，荧光测厚仪，因此，X射线源的衰减，是影响测量精度的一个主要原因。除了正常使用过程中X射线源会出现衰减，在出现某些故障是，也会发生突发性的衰减，出现标准化通过不过，反馈的电压与工厂现场标准电压相差巨大，发生这种情况，X射线测厚仪的测量精度肯定是不准确的。

一六仪器X射线荧光测厚仪 研发生产厂家 品质保证

江苏一六仪器有限公司研发的能量色散X荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析，欢迎来电咨询！

X射线荧光分析仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、刑侦、考古等诸多部门和领域。X 射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测，对产品和材料质量进行无损检测，光谱测厚仪，对***进检和微电路的光刻检验等的重要分析手段，也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。同时，X 射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面shou xuan器之一。