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发布时间:2020-09-10 03:03:13
江苏一六仪器 X射线荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
性能优势:
下照式设计:可以快速方便地***对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,光谱分析仪,凹槽深度范围0-90mm。
微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,电镀膜厚仪,可测试各微小的部件。
测厚仪
测厚仪(thickness gauge )是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的性厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。
江苏一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪 稳定的多道脉冲分析采集系统,专利独特聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例
能量色散X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。
它由高压发生器和***管组成。后者功率较大,用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。
能量色散X射线荧光光谱仪技术原理
能量色散X射线荧光光谱仪是一种波长较短的电磁辐射,凡间是指能t局限在0.1^-100keV的光子。能量色散X射线荧光光谱仪与物质的互相效果首要有荧光、接收和散射三种。
能量色散X射线荧光光谱仪是由物质中的构成元素发生的特征辐射,测厚仪,经过侧里和剖析样品发生的x射线荧光,即可获知样品中的元家构成,获得物质成分的定性和定量信息。
仪一六仪器 快速精准分析膜厚仪稳定的多道脉冲分析采集系统,***的解谱方法,解决各种大小多层多元素的涂镀层厚度分析,
微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件.
测厚仪分类:
一、磁性式
二、涡电流式
三、红外测厚仪
四、电解式(库伦法)
五、金相测试法
六、非***荧光式(***)
具体讲下涡流测厚仪原理如下:1.涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时,由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流,涂层测厚仪,此涡liu产生的磁场又反作用于探头线圈,使其阻抗发生变化,此变化量与探头线圈离金属表面的距离(即覆盖层的厚度)有关,因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。
2.同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理,可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片,塑料膜,纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。
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