膜厚测试仪-丽水测厚仪-江苏一六仪器有限公司(查看)

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，膜厚测试仪，24种元素 厚度检出限:0.005um

X荧光测厚仪相关注意事项：

　　仪器供电电压必须与仪器品牌上的电压一致.仪器三线插头必须连接到已接地的插座上。

　　本仪器为精密仪器，配备的稳压电源.计算机应配备不间断电源(UPS)。

　　仪器应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。

　　为避免短路，严禁仪器与液体直接接触，如果液体进入仪器，请立即关闭仪器。

　　本仪器不能用于酸性环境和场合。

　　不要弄脏和刮擦调校标准片，否则会造成读数错误。

　　不要用任何机械或化学的方法清除调校片上的脏物，可以用不起毛的布轻轻擦拭。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。

波长色散型X射线荧光光谱仪的前面部分和能量色散型X射线荧光光谱仪是一样的，***管激发样品，检测器测量来自样品的射线，但波长色散型X射线荧光光谱仪的检测器和能量色散型X射线荧光光谱仪的检测器不同。波长色散型X射线荧光光谱仪的计策系统由一套准直器，衍射晶体和探测器组成，来自样品的特征谱线照射到镜头上，测厚仪厂家，晶体将不同波长(能量)的谱线衍射到不同的方向，（相当于棱镜将复合光分解成不同的单色光），将检测器放置在一定的角度，就可测量某一波长的谱线强度。将分光晶体和探测器装在测角仪上，使它在一定角度范围内转动，一次测量不同波长长谱线的强度，使用这种形式的光谱仪称为顺序扫描式光谱仪。安装固定检测系统的称为同时式光谱仪，丽水测厚仪，每一套检测系统都有自己的晶体和探测器，分别测量某一特定元素的谱线，各谱线的强度同时被测量，这就很容易理解为什么称它为固定道波长色散型光谱仪，另外也有固定式和转动式结合的仪器。X射线波长色散型光谱仪一般有光源（X-射线管）、样品室

分光晶体和检测系统等组成。

一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集，***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

这些方法中前五种是有损检测，电镀膜厚仪，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。采用无损方法既不***覆层也不***基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。