镀层测厚仪-临沂测厚仪-江苏一六仪器有限公司

江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪

产品配置

***金属镀层测厚仪标准配置为：X射线管，正比计数器﹨半导体探测器，高清摄像头，高度激光，临沂测厚仪，信号检测电子电路。

性能指标

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管，Be窗

标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等

X射线管：管电压50KV，管电流1mA

可测元素：CI～U

检测器：正比计数管

样品观察：CCD摄像头

测定软件：薄膜FP法、检量线法

Z轴程控移动高度 20mm

一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集，***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，镀层膜厚仪，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

能量色散X荧光光谱仪定义及原理

X射线荧光光谱仪是一种可以对多元素进行快速同时测定的仪器。试样受X射线照射后，其中各元素原子的内壳层（K，L或M层）电子被激发逐出原子而引起电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线荧光。每一种元素都有其特定波长的特征X射线。能散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）利用荧光X射线具有不同能量的特点，由探测器本身的能量分辨本领来分辨探测到的X射线。

一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集，***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，镀层测厚仪，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005umxiao测量面积0.002m㎡ 深凹槽20mm以上

镀层厚度分析仪使用注意事项

1．仪器供电电压必须与仪器铭牌上的电压一致。仪器必须使用三线插头连到一个已接地的插座上。

2．镀层厚度分析仪为精密仪器，建议配备的稳压电源。计算机和仪器应配备不间断电源（UPS）。

3．镀层厚度分析仪应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。

4．仪器适合在10~40℃（50~104℉）的环境温度下操作使用，在0~50℃（32~122℉）的温度下存放。操作和存放的允许湿度范围在0~65%之间（非冷凝）。在操作过程中，环境温度和湿度应保持恒定。

5．仪器曝晒在阳光下时温度极易超过50℃。所以请不要在这样的环境下操作和存放仪器，以避免高温对仪器造成损害。

6．为避免短路，严禁仪器与液体直接接触。如果液体进入仪器，请立刻关闭仪器并在重新使用前请技术人员整体检查仪器。

7．镀层厚度分析仪不能用于酸性环境和场合。

8．不要弄脏和刮擦元素片或调校标准片，否则会造成读数错误。

9．不要用任何机械或化学的方法清除元素片或调校标准片上的污物。如果必要的话，可以用一块不起毛的布轻轻擦除脏物。