镇江光谱膜厚仪产品介绍「多图」

一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集,***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

在我们的售前服务工作中，客户通常都会拿一些在其它机构或者仪器测量过的样品来与我们仪器进行测试结果对比，在确认双方仪器都是正常的情况下，会存在或多或少的差异，那么我们务必要把这个差异的来源分析给客户，我们在分析之前首先要给客户解说测试的基本原理，告知此仪器为对比分析测试仪器，然后再谈误差来源，主要来源：

1、标样：对比分析仪器是要求有越接近于需测试样品的标样，测试结果越接近实际厚度。确认双方有没有在标定和校正时使用标样？使用的是多少厚度的标样？

2、样品材料的详细信息：如Ni/Cu的样品，如果一家是按化学Ni测试，一家是按纯Ni测试；Au/Ni/Cu/PCB样品，一款仪器受Br干扰，一款仪器排除了Br干扰。

3、测量位置、面积：确定在同一样品上测试的是否同一位置，因为样品在电镀时因电位差不同，各部位厚度是有差异的；确认两款仪器测量面积的大小有多少差异。

4、样品形状：测量的样品是否是两款仪器都可测量，或者放置位置是否合适，如突出面有无挡住设备接收。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。

波长色散型X射线荧光光谱仪的前面部分和能量色散型X射线荧光光谱仪是一样的，***管激发样品，检测器测量来自样品的射线，但波长色散型X射线荧光光谱仪的检测器和能量色散型X射线荧光光谱仪的检测器不同。波长色散型X射线荧光光谱仪的计策系统由一套准直器，衍射晶体和探测器组成，来自样品的特征谱线照射到镜头上，晶体将不同波长(能量)的谱线衍射到不同的方向，（相当于棱镜将复合光分解成不同的单色光），将检测器放置在一定的角度，就可测量某一波长的谱线强度。镀层是通过电镀在机械制品上沉积出附着良好的，但性能和基体材料不同的金属覆层。将分光晶体和探测器装在测角仪上，使它在一定角度范围内转动，一次测量不同波长长谱线的强度，使用这种形式的光谱仪称为顺序扫描式光谱仪。安装固定检测系统的称为同时式光谱仪，每一套检测系统都有自己的晶体和探测器，分别测量某一特定元素的谱线，各谱线的强度同时被测量，这就很容易理解为什么称它为固定道波长色散型光谱仪，另外也有固定式和转动式结合的仪器。X射线波长色散型光谱仪一般有光源（X-射线管）、样品室

分光晶体和检测系统等组成。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um

X射线荧光光谱测厚仪 X射线的产生

X射线波长略大于0.5纳米的被称作软X射线。波长短于0.1纳米的叫做硬X射线。

产生X射线的简单方法是用加速后的电子撞击金属靶。撞击过程中，电子突然减速，其损失的动能(其中的1%)会以光子形式放出，形成***光谱的连续部分，称之为制动辐射。通过加大加速电压，电子携带的能量增大，则有可能将金属原子的内层电子撞出。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。于是内层形成空穴，外层电子跃迁回内层填补空穴，同时放出波长在0.1纳米左右的光子。由于外层电子跃迁放出的能量是量子化的，所以放出的光子的波长也集中在某些部分，形成了***谱中的特征线，此称为特性辐射。