荧光测厚仪性价比出众

一六仪器----镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪

X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些

我们要保证生产的产品厚度上是否可以，那么X射线测厚仪测量的精度是否准确就非常重要了，如果X射线测厚仪的测量精度发生了偏差，那么生产出来的产品就不会！超声波在介质中传播遇到第二种介质时会被反射，测量超声波脉冲从发射至接收的间隔时间，即可将这间隔时间换算成厚度。由此可知测厚仪的测量精度有多么重要，因此，这次在这与大家分享下X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些:

首先,是X射线的高压控制箱会对测量的精度造成一定的影响；

第二,在X射线测厚仪通过施加高压释放出X射线时,X射线途经环境的温度湿度也会影响X射线对被测物体的测量；

第三,在测量过程中,被测物体上,可能会有附着物,也会影响测量的精度；

第四,在生产过程中,补偿值也会对X射线测厚仪的测量精度造成影响。

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仪器规格：

外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）

样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）

仪器重量 ：55kg

供电电源 ：交流220±5V

da功率 ：330W

环境温度：15℃-30℃

环境相对湿度：lt;70%

第四,在生产过程中,补偿值也会对X射线测厚仪的测量精度造成影响。我们利用测厚仪测量是,会事先给测厚仪输入一个补偿值,让测量值与实际值相等。在这个过程中,操作者首先对板材进行测量,但是操作者使用量尺的方式不同,就会造成补偿值的大小不等,会形***为的误差。只有在进行测量时,操作者认真操作,减少补偿值得测算误差,使补偿值接近真实值,提高X射线测厚仪的测量精度。一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪性能优势：下照式设计：可以快速方便地***对焦样品。

一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪

性能优势：

下照式设计：可以快速方便地***对焦样品。

无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

精密微型滑轨：快速精准***样品。

EFP***算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

如何安装X射线测厚仪

9) 移交调试并配合施工。

10)对比X射线厚度仪安装流程图

11) 特殊技术措施

X射线性同位素仪表，射源安装和安装到位后的调试过程中，对施工人员应采取有效的“剂量照射时间，射源的安全距离和屏蔽”等防护措施，以减少源辐射的伤害。

a 参与X射线仪表安装与调试人员，事先须经医师的***体检，合格后方能上岗施工。

b 在搬运、安装和调试的全过程中，工程项目部必须对施工人员设置安全防护监督岗，使其严格执行同位素操作的有关规定。

X射线荧光的基本原理

一六仪器X射线荧光测厚仪 研发生产厂家 品质保证

江苏一六仪器有限公司研发的能量色散X荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析，欢迎来电咨询！

当X射线激发出试样特征X射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。

X射线的激发

如果要得到某元素的特征X射线，需要对元素原子内层电子进行激发，使得内层电子获得一定能量，能够脱离原子核的束缚，从而在内层轨道形成电子空穴，当较高能级电子填补这一空穴时，才会发射一定能量的特征X射线，这个过程就是X射线的激发。