膜厚测试仪-测厚仪-江苏一六仪器

江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪

仪器简介

XTU系列测厚仪虽然结构紧凑，镀层分析仪，但是都有大容量的开槽设计样品腔，膜厚测试仪，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。

搭配微聚焦射线管和***的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。

检测78种元素镀层·0.005um检出限·测量面积可达0.002mm2·深凹槽可达90mm。

外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的样品测试都没有难度，让操作人员轻松自如。

线路板、引线框架及电子元器件接插件检测

镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

手表、精密仪表制造行业

钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB

汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

电镀液的金属阳离子检测

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。

X射线荧光光谱仪是基于X射线荧光光谱法而进行分析的一种常见分析仪器。通常认为X区域0.01-10nm之间的一段电磁波谱，短波边以伽马射线为界，长波边与真空紫外线区域的实际界线。

X射线荧光光谱仪特点

1、一种真正意义上 的无损分析，在分过程中不会改变样品的化学形态。具有不污染、节能低耗等优点。

2、分析速度快，无须进行样品预处理，升值无须样品的制备，X射线荧光光谱分析可以筛选大量的样品。一般情况下检测在3分钟以下。

3、自动化程度高。

4、可以同时测定样品中的多种元素。

5、随着分析技术的发展，仪器可以满足很多行业的需求。如：地质矿产，冶金、化工、材料、石油勘探、考古、合金、土壤、镀层等诸多行业。

6、样品的形态广。

7、X射线荧光光谱仪分为波长色散谱仪和能量色散谱仪可以满足各行个元素的需求。

8、X射线荧光光谱仪中的能量色散仪是低分辨率光谱仪已是在线分析的选择仪器之一。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

X荧光测厚仪可调整测量位置，电镀膜厚仪，非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时，可连续自动测定，测厚仪，利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。

　　测定部显示尽像的表示：***照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置，可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。