日照测厚仪-一六仪器有限公司-光谱膜厚仪

一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集，***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005umxiao测量面积0.002m㎡ 深凹槽20mm以上

镀层厚度分析仪使用注意事项

1．仪器供电电压必须与仪器铭牌上的电压一致。仪器必须使用三线插头连到一个已接地的插座上。

2．镀层厚度分析仪为精密仪器，建议配备的稳压电源。计算机和仪器应配备不间断电源（UPS）。

3．镀层厚度分析仪应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。

4．仪器适合在10~40℃（50~104℉）的环境温度下操作使用，在0~50℃（32~122℉）的温度下存放。操作和存放的允许湿度范围在0~65%之间（非冷凝）。在操作过程中，环境温度和湿度应保持恒定。

5．仪器曝晒在阳光下时温度极易超过50℃。所以请不要在这样的环境下操作和存放仪器，以避免高温对仪器造成损害。

6．为避免短路，严禁仪器与液体直接接触。如果液体进入仪器，请立刻关闭仪器并在重新使用前请技术人员整体检查仪器。

7．镀层厚度分析仪不能用于酸性环境和场合。

8．不要弄脏和刮擦元素片或调校标准片，否则会造成读数错误。

9．不要用任何机械或化学的方法清除元素片或调校标准片上的污物。如果必要的话，可以用一块不起毛的布轻轻擦除脏物。

江苏一六仪器 XTU系列 XTU-BL X荧光光谱仪

仪器规格：

外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （长x宽x高）

样品仓尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （长x宽x高）

仪器重量 ：55kg

供电电源 ：交流220±5V

功率 ：330W

环境温度：15℃-30℃

环境相对湿度：lt;70%

EDX是借助于分析试样发出的元素特征X射线波长和强度实现的， 根据不同元素特征X射线波长的不同来测定试样所含的元素。通过对比不同元素谱线的强度可以测定试样中元素的含量。通常EDX结合电子显微镜使用，可以对样品进行微区成分分析。

常用的EDX探测器是硅渗锂探测器。当特征X射线光子进入硅渗锂探测器后便将硅原子电离，镀层膜厚仪，产生若干电子-空穴对，其数量与光子的能量成正比。利用偏压收集这些电子空穴对，光谱膜厚仪，经过一系列转换器以后变成电压脉冲供给多脉冲高度分析器，并计数能谱中每个能带的脉冲数。

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一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集，***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，光谱测厚仪，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

XTU-A、XTU-50A：五金产品、紧固件、汽车配件、卫浴等，测量面积大于?0.2mm的产品

?XTU-BL：主要针对线路板等大平面，日照测厚仪，但是需要测试?0.1mm以下，且求购仪器预算较低的客户。

?XTU-50B、XTU-4C：可测试小至?0.05mm测量面积，且搭载的精密移动平台和变焦镜头（XTU全系列都含有）能满足各种需求。