日照测厚仪-一六仪器有限公司-光谱测厚仪

一六仪器-------镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪

X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些

首先，是X射线的高压控制箱会对测量的精度造成一定的影响。X射线测厚仪的测量原理就是通过施加高压电源出X射线，光谱测厚仪，通过X射线的穿透物体时的衰减量来测量被测物体的厚度。但是高压控制箱的安装位置会对测厚仪的准确度造成一定的影响。安装的位置不当就会使测量的精度不准确波动比较明显。另外，日照测厚仪，X射线本身的衰减也会影响测厚仪的测量精度。

X射线荧光分析仪的应用

一六仪器X射线荧光测厚仪 研发生产厂家 品质保证

江苏一六仪器有限公司研发的能量色散X荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析，欢迎来电咨询！

X射线荧光分析仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、刑侦、考古等诸多部门和领域。X 射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测，对产品和材料质量进行无损检测，膜厚测试仪，对***进检和微电路的光刻检验等的重要分析手段，也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。同时，光谱分析仪，X 射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面shou xuan器之一。

一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪

一六仪器研发生产的X荧光光谱仪，稳定的多道脉冲分析采集系统，专利独特聚焦和变距设计，多元EFP算法，简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

涂层测厚仪操作规程有哪些

我们在使用涂层测厚仪时，如果不了解涂层测厚仪的操作规程，那么就很容易出现一些问题，甚至严重的可能会对自身产生威胁，那么涂层测厚仪的操作规程有哪些，下面就来了解下先：

一、技术参数

采用了磁性和涡流两种测厚方法。通过选择相应的测头，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；

测量范围：（0~1250）μm（F1、N1测头），F10测头可达10mm；

分辨率：0.1μm（F1、N1测头）

示值精度：±（3％H 1）μm；H为被测涂层厚度

显示方法：高对比度的段码液晶显示，高亮度EL背光；

存储容量：可存储20组（每组多50个测量数值）测量数据

单位制：公制μm、英制（mil）、可自由转换 ? 工作电压：3V（2节5号碱性电池）

持续工作时间：大于200小时（不开背光灯）

通讯接口：USB1.1，可与PC机连接、通讯

日照测厚仪-一六仪器有限公司-光谱测厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司（www.16elite.com）是一家从事“测厚仪,标准片”的公司。自成立以来，我们坚持以“诚信为本，稳健经营”的方针，勇于参与市场的良性竞争，使“江苏一六仪器”品牌拥有良好口碑。我们坚持“服务为先，用户至上”的原则，使一六仪器在专用仪器仪表中赢得了众的客户的信任，树立了良好的企业形象。 特别说明：本信息的图片和资料仅供参考，欢迎联系我们索取准确的资料，谢谢！