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江苏一六仪器有限公司

主营:测厚仪,标准片

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江苏一六仪器有限公司
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山东镀层分析仪产品介绍,江苏一六仪器

发布时间:2020-07-27 20:49:21        








一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集,***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

薄膜是指在基板的垂直方向上所堆积的1~104的原子层或分子层。在此方向上,薄膜具有微观结构。

理想的薄膜厚度是指基片表面和薄膜表面之间的距离。由于薄膜仅在厚度方向是微观的,其他的两维方向具有宏观大小。所以,表示薄膜的形状,一定要用宏观方法,即采用长、宽、厚的方法。因此,膜厚既是一个宏观概念,又是微观上的实体线度。

由于实际上存在的表面是不平整和连续的,而且薄膜内部还可能存在着、杂质、晶格缺陷和表面吸附分子等,所以,要严格地定义和测量薄膜的厚度实际上是比较困难的。膜厚的定义应根据测量的方法和目的来决定。

经典模型认为物质的表面并不是一个抽象的几何概念,而是由刚性球的原子(分子)紧密排列而成,是实际存在的一个物理概念。

形状膜厚:dT是接近于直观形式的膜厚,通常以um为单位。dT只与表面原子(分子)有关,并且包含着薄膜内部结构的影响;

质量膜厚:dM反映了薄膜中包含物质的多少,通常以μg/cm2为单位,它消除了薄膜内部结构的影响(如缺陷、、变形等);

物性膜厚:dP在实际使用上较有用,而且比较容易测量,它与薄膜内部结构和外部结构无直接关系,主要取决于薄膜的性质(如电阻率、透射率等)。


江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名***通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。通过测定特征X射线的能量,便可以确定相应元素的存在,而特征X射线的强弱(或者说X射线光子的多少)则代表该元素的含量或厚度。稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。

一. 磁吸力测量原理镀层厚度分析仪

长久磁铁(测头)与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系,这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪,只要覆层与基材的导磁率之差足够大,就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型,所以磁性测厚仪应用广。测厚仪基本结构由磁钢,接力簧,标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后,将测量簧在其后逐渐拉长,拉力逐渐增大。2.标准块的选择可用标准块的单位面积厚度单位校准仪器,厚度值必须伴随着覆盖层材料的密度来校正。当拉力刚好大于吸力,磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源,测量前无须校准,价格也较低,很适合车间做现场质量控制。


一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um

选择Elite(一六仪器)X射线荧光镀层测厚仪理由:

根据IPC规程,必须使用整块的标准片来校正仪器,对于多镀层的测量,目前大多数客户购买的测厚仪采用的是多种箔片叠加测量校正,比如测量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu,因为测量点很小,测量距离的变化对测量结果有较大影响,如果使用Au,Pd,Ni三种箔片叠加校正,校正的时候箔片之间是有空气,并且Pb元素与空气的频谱重叠,以上会对测量结果产生较大影响,Elite(一六仪器)测厚仪有电镀好的整块的Au/Pd/Ni/Base标准片,不需要几种箔片叠加校正,可以确保镀层测量的准确性。江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。

2、采用微聚焦X射线管,油槽式设计,工作时采用油冷,长期使用时寿命更长。微聚焦X射线管配合比例接收能实现高计数率,可以进行测量。

3、Elite(一六仪器)WinFTM专用软件,具有强大且界面友好、中英文切换,多可同时测量23层镀层,24种元素,测量数据可直接以WORD格式或EXCEL格式输出、打印、保存。性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。采用基本参数法(FP),有内置频谱库,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行准确的分析和测量。

4、 Elite(一六仪器)针对PCB(印制电路板)线路板上的镀层厚度及分析而设计的X射线荧光测厚仪(XDLM-PCB200/PCB210系列)具有以下特点:1)工作台有手动和程序控制供客户选择,2)采用开槽式设计和配置加长型样品平台,用于检测大尺寸的线路板。能量色散X射线荧光光谱仪广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。



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