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电镀膜厚仪满意的选择

发布时间:2020-07-26 01:09:20        








仪一六仪器 快速精准分析膜厚仪稳定的多道脉冲分析采集系统,***的解谱方法,解决各种大小多层多元素的涂镀层厚度分析,

微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件.

测厚仪分类:


一、磁性式

二、涡电流式

三、红外测厚仪

四、电解式(库伦法)

五、金相测试法

六、非***荧光式(***)

具体讲下涡流测厚仪原理如下:


1.涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时,由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流,此涡liu产生的磁场又反作用于探头线圈,使其阻抗发生变化,此变化量与探头线圈离金属表面的距离(即覆盖层的厚度)有关,因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。第三,在测量过程中,被测物体上,可能会有附着物,也会影响测量的精度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。

2.同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理,可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片,塑料膜,纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。


江苏一六仪器有限公司 X射线荧光光谱测厚仪


***的技术,***的团队,严格的企业管理是公司得以不断发展壮大、产品能够赢得客户信赖的根本所在。欢迎咨询联系!


性能优势:

下照式设计:可以快速方便地***对焦样品。

无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm。

微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002m㎡的样品,可测试各微小的部件。



X射线荧光的基本原理

镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪---一六仪器 欢迎咨询联系

X射线荧光是由原级X射线照射待测样品时所产生的次级X射线,入射的X射线具有相对较大的能量,使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。X射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间,能量在124KeV-0.124KeV之间。对于我们要使用到测厚仪的厂家来说,测厚仪能否适用于我们的产品是非常重要的,那么X射线测厚仪主要应用在哪些方面。用于元素分析中的X射线荧光光谱波长的范围在0.01-11纳米之间,能量为0.111-0.124KeV。

当X射线激发出试样特征X射线时,其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁,这个值是吸收限,相当于内层电子的功函数。3、测厚仪原理--超声波测厚仪超声波测厚仪:这种测厚仪是根据超声波脉冲反射的原理来对物体厚度进行测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲会发生反射而返回探头,通过准确测量超声波在材料中传播的时间,来计算被测材料的厚度。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。





一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪

稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。


如何安装X射线测厚仪

11) 特殊技术措施

a 参与X射线仪表安装与调试人员,事先须经医师的***体检,合格后方能上岗施工。

b 在搬运、安装和调试的全过程中,工程项目部必须对施工人员设置安全防护监督岗,使其严格执行同位素操作的有关规定。

c 施工人员应佩带防护眼镜、手套、防护服等必备的防护用品。

d 施工人员必须携带剂量笔,认真做好统计工作,当***量超过允许值时,应立即更换操作人员。

e X射源安装完毕,在开启的状态下,对周围的射线辐射剂量进行检测,在安全区不得超过***当量的允许值(一般情况下是安全的)。

f 安装调试完成后,应测出源周围的安全剂量分布图,同时设置yong久性安全管理区。

g 从事该项工作的安装调试人员,全部工作结束后,应再次进行体检,根据前后两次体检数据比较结果,确定健康状况,若有些指标过高,则应采取zhi疗和***措施,直到***。

























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