膜厚测试仪-一六仪器1-丽水测厚仪

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

江苏一六仪器 X荧光测厚仪测试要求：

工作要求：

1 环境温度要求：15℃-30℃

2 环境相对湿度：lt;70%

3 工作电源：交流220±5V

4 周围不能有强电磁干扰。

5 Max功率 ：330W

6 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）

7 样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）

8 仪器重量 ：55kg

9 分析软件EFP，可同时分析23层镀层，丽水测厚仪，24种元素，不同层有相同元素也可分析

10 软件操作人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误

11 X射线装置：W靶微聚焦加强型射线管

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

X荧光测厚仪可调整测量位置，非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时，涂层测厚仪，可连续自动测定，利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。

　　测定部显示尽像的表示：***照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置，光谱膜厚仪，可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

江苏一六仪器 X荧光光谱测厚仪 优点

X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统，膜厚测试仪，结构简单。X射线激发源可用X射线发生器，也可用性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器。探测器和记录等与X射线荧光光谱仪相同。

X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。