南京镀层分析仪服务为先

一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集,***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

XTU-A、XTU-50A：五金产品、紧固件、汽车配件、卫浴等，测量面积大于?0.2mm的产品

?XTU-BL：主要针对线路板等大平面，但是需要测试?0.1mm以下，且求购仪器预算较低的客户。

?XTU-50B、XTU-4C：可测试小至?0.05mm测量面积，且搭载的精密移动平台和变焦镜头（XTU全系列都含有）能满足各种需求。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪

***的技术，***的团队，严格的企业管理是公司得以不断发展壮大、产品能够赢得客户信赖的根本所在。

一六仪器、一liu品质!各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎咨询联系！

镀层是通过电镀在机械制品上沉积出附着良好的，但性能和基体材料不同的金属覆层。

电镀层一般都比较薄，从几十纳米到几十微米不等。通过电镀，可以再机械制品上获得装饰保护性和各种功能性的表面层，还可以修复磨损和加工失误的工件，镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。波长色散型X射线荧光光谱仪的前面部分和能量色散型X射线荧光光谱仪是一样的，***管激发样品，检测器测量来自样品的射线，但波长色散型X射线荧光光谱仪的检测器和能量色散型X射线荧光光谱仪的检测器不同。金属镀层通常按镀层的用途可把镀层分为三大类，即防护性镀层，防护一装饰性镀层和功能性镀层。

江苏一六仪器有限公司 ***镀层测厚检测 欢迎来电详询！

X射线荧光光谱分析可以非***性同时完成组分和厚度测试，厚度的测量范围视材料和元素而定，通常在1nm-50um之间。X射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较，被测元素的特征X射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关，而且与厚度直接相关。EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题X荧光镀层测厚仪标准片选择与使用1．一般要求使用可靠的参考标准块校准仪器。能量色散X射线荧光光谱分析相对其他分析方法，具有无需对样品进行特别的化学处理、快速，方便，测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。是目前应用为广泛，具有速度快、无损化以及可实现多镀层同时分析等特点。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um

选择Elite（一六仪器）X射线荧光镀层测厚仪理由：

根据IPC规程，必须使用整块的标准片来校正仪器，对于多镀层的测量，目前大多数客户购买的测厚仪采用的是多种箔片叠加测量校正，比如测量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu,因为测量点很小，测量距离的变化对测量结果有较大影响，如果使用Au，Pd，Ni三种箔片叠加校正，校正的时候箔片之间是有空气，并且Pb元素与空气的频谱重叠，以上会对测量结果产生较大影响，Elite（一六仪器）测厚仪有电镀好的整块的Au/Pd/Ni/Base标准片，不需要几种箔片叠加校正，可以确保镀层测量的准确性。稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。

2、采用微聚焦X射线管，油槽式设计，工作时采用油冷，长期使用时寿命更长。微聚焦X射线管配合比例接收能实现高计数率，可以进行测量。

3、Elite（一六仪器）WinFTM专用软件，具有强大且界面友好、中英文切换，多可同时测量23层镀层，24种元素，测量数据可直接以WORD格式或EXCEL格式输出、打印、保存。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。采用基本参数法（FP），有内置频谱库，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确的分析和测量。

4、 Elite（一六仪器）针对PCB（印制电路板）线路板上的镀层厚度及分析而设计的X射线荧光测厚仪（XDLM-PCB200/PCB210系列）具有以下特点：1）工作台有手动和程序控制供客户选择，2）采用开槽式设计和配置加长型样品平台，用于检测大尺寸的线路板。005um江苏一六仪器X射线荧光镀层测厚仪应用领域集成电路是国民经济首要突破的行业，中国现代制造业的发展，集成电路是基础。