荧光测厚仪性价比高

能量色散X射线荧光光谱仪技术原理

江苏一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪

稳定的多道脉冲分析采集系统,专利独特聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

能量色散X射线的发生与特征当用高能电子束照耀样品时，人射高能电子被样品中的电子减速，这种带电拉子的负的加快度会发生宽带的延续X射线谱，简称为延续潜或韧致辐射。

另一方面，化学元素遭到高能光子或粒子的照耀，如内层电子被激起，则当外层电子跃迁时，就会出特征X射线。

能量色散X射线是一种别离的不延续谱.假如激起光源为x射线，则受激发生的x射线称为二次X射线或X射线荧光。特征X射线显示了特征能量色散X射线荧光光谱仪发生的进程。

当人射x射线撞击原子中的电子时，如光子能量大于原子中的电子约束能，电子就会被击出。这一互相效果进程被称为光电效应，被打出的电子称为光电子。经过研讨光电子或光电效应可以取得关于原子构造和成键形态的信息。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。

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涂层测厚仪操作规程有哪些

我们在使用涂层测厚仪时，如果不了解涂层测厚仪的操作规程，那么就很容易出现一些问题，甚至严重的可能会对自身产生威胁，那么涂层测厚仪的操作规程有哪些，下面就来了解下先：

一、维护及注意事项

1. 应避免仪器及测头受到强烈震动；

2. 避免仪器置于过于潮湿的环境中；

3. 插拔测头时，应捏住活动外套沿轴线用力，不可旋转测头，以避 免损坏测头电缆芯线。

4. 油、灰尘的附着会使测头线逐渐老化、断裂，使用后应清除缆线上的污垢。

5. 当仪器出现非正常现象时，请不要拆卸或调节任何固定装配的零件，请交给厂家维修部门检测、维修。

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X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些

第二,在X射线测厚仪通过施加高压释放出X射线时,X射线途经环境的温度湿度也会影响X射线对被测物体的测量。尤其是在热轧的过程中,测量的空间大X射线途经的环境就比较大,当温度高时,测量值减小,当温度低时,测量值则增加。

第三,在测量过程中,被测物体上,可能会有附着物,也会影响测量的精度。比如,在轧制生产中,测量的钢板上可能会附着着水、油或者氧化物,这都会对X射线测厚仪的测量值造成影响,出现误差。一六仪器------镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪测厚仪有：X射线测厚仪、γ射线测厚仪、激光测厚仪。另外,被测量的物体,可能会上下跳动,偏离测量时的位置,这种倾斜也会影响测量的精度。