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经营模式: | 生产加工 |
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发布时间:2020-07-04 22:37:08
一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪
一六仪器研发生产的X荧光光谱仪,稳定的多道脉冲分析采集系统,专利独特聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例
仪器规格:
外形尺寸 :550 mm x 660mm x 470 mm (长x宽x高)
样品仓尺寸 :500mm×660 mm ×215mm (长x宽x高)
仪器重量 :55kg
供电电源 :交流220±5V
*** da功率 :330W
环境温度:15℃-30℃
环境相对湿度:lt;70%
涂层测厚仪操作规程有哪些
我们在使用涂层测厚仪时,如果不了解涂层测厚仪的操作规程,那么就很容易出现一些问题,甚至严重的可能会对自身产生威胁,那么涂层测厚仪的操作规程有哪些,下面就来了解下先:
一、操作注意事项
1. 如果在测量中测头放置不稳,会引起测量值与实际值偏差较大;
2. 如果已经进行了适当的校准,所有的测量值将保持在一定的误差 范围内;
3. 仪器的任何一个测量值都是五次看不见的测量平均值;
4. 为使测量更加准确,可在一个点多次测量,并计算其平均值作为 终的测量结果;
5. 显示测量结果后,一定要提起测头至距离工件10mm以上,才可以 进行下次测量。
江苏一六仪器有限公司是一家光谱分析仪器研发、生产、销售的企业。江苏一六仪器有限公司***解决各种大小异形、多层多元素、重复镀层、轻元素、有机物及微小样品检测什么是涂层测厚仪什么是涂层测厚仪。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名***通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。欢迎咨询联系!
如何选择测厚仪的测点
如何选择测厚仪的测点位置?我们想要使用测厚仪测量物品厚度,前提是有测点位置,相当于我们的需要选择一个固定点为零值一样,如此才能够测量出具体厚度。
1、钢结构柱、梁,在构件长度方向内每隔1m取一截面,测试构件各表面的涂层厚度,计算所有测点的平均值作为该根构件的涂刷厚度.
2、桁架结构、梁,在上、下弦和腹杆的长度方向内每隔1m取一个截面,测定杆件各表面的涂层厚度,计算所有测点的平均值作为该根构件的涂层厚度.顶板和钢楼梯,在每平方范围内选取5个点进行测定,计算所有测点的平均值作为该构件的涂层厚度.
一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪
性能优势:
下照式设计:可以快速方便地***对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm。
微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件。
率的jie shou qi :即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性。
精密微型滑轨:快速精准***样品。
EFP***算法软件:多层多元素,甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
测厚仪和膜厚仪一样吗
测厚仪和膜厚仪是不一样的,膜厚仪属于测厚仪的分类,也就是说测厚仪是膜厚仪的上司一样,对此我们也可以来了解下测厚仪跟膜厚仪的一些概念:
测厚仪:凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量,如金属类、塑料类、陶瓷类、玻璃类。可以对各种板材和加工零件作准确测量,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。显示测量结果后,一定要提起测头至距离工件10mm以上,才可以进行下次测量。广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。
X射线荧光分析仪的应用
一六仪器X射线荧光测厚仪 研发生产厂家 品质保证
江苏一六仪器有限公司研发的能量色散X荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析,欢迎来电咨询!
X射线荧光分析仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、刑侦、考古等诸多部门和领域。X 射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测,对产品和材料质量进行无损检测,对***进检和微电路的光刻检验等的重要分析手段,也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。同时,X 射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面shou xuan器之一。
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