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光谱测厚仪服务为先「多图」

发布时间:2020-06-28 21:09:32        









一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集,***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

镀层厚度分析仪又叫涂镀层测量仪、电镀层测试仪、防腐层检测仪、涂镀层测试仪、涂镀层测量仪、油漆测厚仪价格、油漆层测厚仪、油漆膜厚仪、钢结构油漆层测厚仪、钢板油漆测厚仪、钢管油漆测厚仪、油漆防腐层测厚仪、油罐防腐层测厚仪可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求一次可同时分析多达五层镀层度适应范围为15℃至30℃镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)分析含量一般为2ppm到99。

镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。



江苏一六仪器 X荧光光谱测厚仪

下照式设计:可以快速方便地***对焦样品。

无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm。

微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件。

接收:即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性。

精密微型滑轨:快速精准***样品。

EFP***算法软件:多层多元素,甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。


江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪

电镀液测量杯整套含两个测量杯,可用于多品牌X-RAY测厚仪上使用,高纯元素本底提高测量精度和检出限。电镀液测试样品杯,严格控制了容量和溢出物的处理,用来测试溶液中金属离子的浓度;使用方便简捷,无污染。

测试膜,又名X射线荧光光谱仪样品薄膜,迈拉膜,麦拉膜,XRF测试薄膜,XRF样品膜,样品薄膜,EDX薄膜,EDX样品薄膜,ROHS检测膜,光谱仪样品薄膜;是应用于X荧光光谱仪的用于保留液体、粉末、泥浆或固体样本在样本杯内的物质。专用样品薄膜是使用方便简捷,无污染的测试用样品薄膜,广泛应用于Elite、fischer、牛津、博曼、先锋、日立、天瑞等各种品牌的EDX/XRF光谱仪。EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题镀层厚度分析仪的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。



江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名***通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪

X射线荧光光谱测厚仪原理

一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为 (10)-12-(10)-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐射形式放出,便产生X射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。当较外层的电子跃迁到空穴时,所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,此称为俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应,所逐出的次级光电子称为俄歇电子。

它的能量是特征的,与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐射形式放出,便产生X射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。因此,X射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。由于***具有一定的波长,同事又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有2种基本类型:波长色散型(WD)和能量色散性(ED)。 K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中 任一电子所填充,从而可产生一系列的谱线,称为K系谱线:由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。


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