膜厚测试仪免费咨询

一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集,***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

测试面积是测厚仪器的一项很重要的参数，主要由准直器控制组成，但也受其它条件限制：

1、受高压、光管限制，因为需要这两装置提供足够荧光强度和聚焦。

2、受仪器结构限制，相同的准直器因安装的位置及与探测器的角度都影响测量面积，同样是直径0.2mm准直器Thick800A测量面积达到直径0.4mm，EDX1800B测量面积达到直径0.5mm，CMI900测量面积达到0.3mm,而XTU-A面积可以达到0.218.

镀层厚度分析仪的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆

层测厚时采用。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。

荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素量分析。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。但是由于影响荧光X射线的强度的因素较多，除待测元素的浓度外，仪器校正因子，待测元素X射线荧光强度的测定误差，元素间吸收增加效应校正，样品的物理形态（如试样的均匀性、厚度，表面结构等）等都对定了分析结果产生影响。由于受样品的基体效应等影响较大，因此，对于标注样品要求很严格，只有标准样品与实际样品集体和表面状态相似，才能保证定量结果的准确性。