一六仪器(图)-电镀膜厚仪-泰州测厚仪

江苏一六仪器 我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。

-样品观察系统高分辨、彩色、实时CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光辅助光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能

7计算机系统配置IBM计算机:1.6G奔腾IV处理器，256M内存，泰州测厚仪，1.44M软驱，膜厚测试仪，40G硬盘，CD-ROM，鼠标，键盘，镀层膜厚仪，17寸彩显，电镀膜厚仪，56K调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机。

8分析应用软件操作系统:Windows2000中文平台中文分析软件包:***artLinkFP软件包

一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集，***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有***源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用***广泛的测厚仪器。采用无损方法既不***覆层也不***基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。

一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集，***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

能量色散X荧光光谱仪定义及原理

X射线荧光光谱仪是一种可以对多元素进行快速同时测定的仪器。试样受X射线照射后，其中各元素原子的内壳层（K，L或M层）电子被激发逐出原子而引起电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线荧光。每一种元素都有其特定波长的特征X射线。能散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）利用荧光X射线具有不同能量的特点，由探测器本身的能量分辨本领来分辨探测到的X射线。