丽水镀层膜厚仪值得信赖

X-RAY测厚仪特点

1，价格高，机种不同，价格在10万~100万左右，可测试P（磷）~U（铀），并且支持Rohs及元素分析功能等。

2，无损检测，Windows操作系统，使用简便。操作快速，能适应多类镀层，大量检测，但体积较大，计算机除外约100000cm2，50000g左右。

3，测量厚度范围较广，

0.002um~100um左右，能测试5层以上膜厚，并且可以测量合金镀层，也可分析镀层元素和含量比。

4，测量精度高，1%左右，分辨率高，0.001um左右。

5，测头的面积较小，对需测的样品要求不高：0.1mmψ以下也可测量，基材厚度无要求。

6，可编程XYZ测量台及大移动范围。

江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪 元素分析范围：氯（CI）- 铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

x射线荧光镀层测厚仪（国产）是一款针对金属电镀层（镀金、镀镍、镀锌、镀锡等）厚度的，通过X荧光照射出产品，每个元素反射出的二次特征谱线，通过检测器分析出强度来金属镀层的厚度，完全达到无损、快速分析的效果，产品广泛应用于电子电器、五金工具、电镀企业（铝平行管、电镀五金），连接器企业、开关企业等。将列表可测定的厚度范围-基本分析功能无标样检量线测厚，可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。

x射线荧光镀层测厚仪性能优势

采用高度***激光，可自动***测试高度

***激光确定***光斑，确保测试点与光斑对齐

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏***传感器保护

minimum φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可***测试点，重复***精度小于0.005mm

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点x射线荧光镀层测厚仪技术参数

一次可同时分析多达五层镀层

度适应范围为15℃至30℃

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

分析含量一般为2ppm到99.9%

江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪

产品配置

***金属镀层测厚仪标准配置为：X射线管，正比计数器﹨半导体探测器，高清摄像头，高度激光，信号检测电子电路。

性能指标

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管，Be窗

标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等

X射线管：管电压50KV，管电流1mA

可测元素：CI～U

检测器：正比计数管

样品观察：CCD摄像头

测定软件：薄膜FP法、检量线法

Z轴程控移动高度 20mm