光谱测厚仪-测厚仪-一六仪器有限公司(查看)

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

（一）、内部结构

X荧光光谱测厚仪机型很多，但是其内部结构如果先天不足，后期的外部结构无论自动化多高，镀层膜厚仪，也无法完全满足客户需求。内部结构重要的3点：

1、X荧光发射和CCD观测是否同步和垂直？

2、测试样品是否可以变化测头到样品的距离？

3、***照射面积从出口到样品的扩散情况。

（二）、各种内部结构的优缺点

1、X荧光发射和CCD观测样品只有同步且垂直才不会因为样品的高低深浅变化而改变测试到样品的位置，才能保证***精准，同时减少与探测器或计数器的夹角，夹角小测试时

受样品曲面或者倾斜影响小。

2、测试样品距离可变化才能测试高低不平带凹槽的样品工件，同时也兼顾好平面样品的测试。但是它需要配备变焦镜头和变焦

补偿射线的算法。

3、***照射面积从出口到样品的扩散过于严重会导致无法测试样品工件上较小的平面位置，光谱测厚仪，如果减小出口（准直器直径），又会严重耗损***的强度。

因此一台此类仪器的小准直器不是关键，但是测试面积却是个***重要的指标。

江苏一六仪器 我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。

-样品观察系统高分辨、彩色、实时CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光辅助光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能

7计算机系统配置IBM计算机:1.6G奔腾IV处理器，测厚仪，256M内存，1.44M软驱，40G硬盘，CD-ROM，鼠标，键盘，17寸彩显，56K调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机。

8分析应用软件操作系统:Windows2000中文平台中文分析软件包:***artLinkFP软件包

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪

X射线荧光光谱分析仪结构及组成：用X射线照射式样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此试用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于***具有一定的波长，同事又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有2种基本类型：波长色散型（WD）和能量色散性（ED）。

波长色散型是由色散元件将不同波长的特征X射线衍射到不同的角度上，探测器需移动到想要的位置上来探测某一波长能量的射线。而能量色散型，是由探测器本身的能量分辨本领直接探测X射线的能量。波长色散型谱线分辨本领高，而能量色散型可同时测量多条谱线的能量。