南平光谱测厚仪信赖推荐 一六仪器有限公司

一六仪器 X-RAY测厚仪研发生产厂家,欢迎来电咨询!

高精度测厚仪,多薄多复杂组合的镀层分析,一六仪器研发生产的仪器都能满足您的使用!

一六仪器提供的测厚仪可测试面积0.002mm?和80mm深槽的样品

测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，***测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。

测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。

⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。

⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。

⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。

⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。

能量色散X射线荧光光谱仪技术原理

江苏一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪 稳定的多道脉冲分析采集系统,专利独特聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

能量色散X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。

它由高压发生器和***管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。

能量色散X射线荧光光谱仪技术原理

能量色散X射线荧光光谱仪是一种波长较短的电磁辐射，凡间是指能t局限在0.1^-100keV的光子。能量色散X射线荧光光谱仪与物质的互相效果首要有荧光、接收和散射三种。

能量色散X射线荧光光谱仪是由物质中的构成元素发生的特征辐射，经过侧里和剖析样品发生的x射线荧光，即可获知样品中的元家构成，获得物质成分的定性和定量信息。

一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪

一六仪器研发生产的X荧光光谱仪,稳定的多道脉冲分析采集系统,专利独特聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

性能优势：

下照式设计：可以快速方便地***对焦样品。

无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

***率的jie shou qi ：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

EFP***算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

涂层测厚仪操作规程有哪些

我们在使用涂层测厚仪时，如果不了解涂层测厚仪的操作规程，那么就很容易出现一些问题，甚至严重的可能会对自身产生威胁，那么涂层测厚仪的操作规程有哪些，下面就来了解下先：

三、操作步骤

4. 判断是否需要校准仪器。如果需要，选择适当的校准方法进行校 准；

5. 测量。将测头垂直接触工件的测量面，并轻压测头的加载套，当 测头与被测工件表面接触稳定后，随着一声蜂鸣声，屏幕将显示标识和测量值。如果测量标识闪烁或无测量标识则表示测头不稳定.移开测头后，测量标识消失，厚度值保持。

6. 仪器关机