膜厚测试仪-日照测厚仪-一六仪器有限公司(查看)

一六仪器 X-RAY测厚仪研发生产厂家，光谱膜厚仪，欢迎来电咨询!

高精度测厚仪，多薄多复杂组合的镀层分析，一六仪器研发生产的仪器都能满足您的使用!

一六仪器提供的测厚仪可测试面积0.002mm?和80mm深槽的样品

测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，***测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。

测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。

⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。

⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，日照测厚仪，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。

⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。

⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。

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X射线荧光是由原级X射线照射待测样品时所产生的次级X射线，膜厚测试仪，入射的X射线具有相对较大的能量，使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。X射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间，能量在124KeV-0.124KeV之间。用于元素分析中的X射线荧光光谱波长的范围在0.01-11纳米之间，能量为0.111-0.124KeV。

当X射线激发出试样特征X射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。

一六仪器X射线荧光测厚仪 研发生产厂家 品质保证

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。

测厚仪介绍：可以用来在线测 量轧制后的板带材厚度，镀层分析仪，并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统，以实现 对板带厚度的自动厚度控制（AGC）。 目前常见的测厚仪有γ射线、β射 线、x射线及同位素射线等四种，其安放位置均在板带轧机的出口或入 口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊，目的是降低板厚的滞后调整时间。