膜厚测试仪询问报价

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um

X荧光测厚仪可调整测量位置，非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时，可连续自动测定，利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。

　　测定部显示尽像的表示：***照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置，可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。

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元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um

工业X射线镀层厚度分析仪以其快速、无损、现场测量等优点，已在冶金、建材、地质、环保、商检、考古、***等领域得到迅速推广和应用。X荧光光谱分析是一种非常常见的分析技术，二、应用领域X荧光光谱仪作为一种常见的分析技术手段，在现实生活中有着非常广泛的应用，主要可以分为以下四大类：1。近几年来X射线荧光仪已在工业镀层及涂层厚度测量中应用越来越广泛。众所周知，产品和金属元件表面镀层或防腐层厚度是与产品质量与性能相关的重要指标。实验表明使用同位素X射线荧光分析方法，能够满足工业镀层和涂层厚度的分析要求，并且具有无损、在线、简便快速、可实现自动控制等特点。

一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集,***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

软件算法

?大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法（经验系数法）。这个方法是测定几点实际的已知厚度样品，寻求想测定元素的荧光X射线强度和厚度之间的关系，以其结果为基础测定未知样品取得荧光X射线，从而得到浓度值。

?另一个方法是理论演算的基础参数法（FP法）。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提，利用计算的各个荧光X射线强度的理论值，推测测定得到未知样品各个元素的荧光X射线强度的组成一致。

?NBS-GSC法也称作理论Alpha系数法。江苏一六仪器X射线荧光光谱仪XTU/X-RAY系列技术参数X射线装置：W靶微聚焦加强型射线管准直器φ0。它是基于荧光X射线激发的基本原理，从理论上使用基本物理参数计算出样品中每个元素的一次和二次特征X射线荧光强度的。基于此再计算Lachance综合校正系数，然后使用这些理论α系数去校正元素间的吸收增强。它与经验系数法不同，这些校正系数是从“理论”上取得的，而非建立在“经验”上。因而它也不需要那么多的标样，只要少数标样来校准仪器因子。