丽水光谱膜厚仪服务为先 一六仪器有限公司

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um

X荧光测厚仪可调整测量位置，非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时，可连续自动测定，利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。

　　测定部显示尽像的表示：***照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置，可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。

一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集,***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

镀层厚度分析仪的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆

层测厚时采用。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪

X射线荧光光谱分析仪结构及组成：用X射线照射式样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此试用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于***具有一定的波长，同事又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有2种基本类型：波长色散型（WD）和能量色散性（ED）。微聚焦X射线管配合比例接收能实现高计数率，可以进行高精度测量。

波长色散型是由色散元件将不同波长的特征X射线衍射到不同的角度上，探测器需移动到想要的位置上来探测某一波长能量的射线。而能量色散型，是由探测器本身的能量分辨本领直接探测X射线的能量。波长色散型谱线分辨本领高，而能量色散型可同时测量多条谱线的能量。3．标准块的X射线发射（或吸收）特性及使用校正标准块的覆盖层应与被测覆盖层具有相同的X射线发射（或吸收）特性。