膜厚测试仪-杭州测厚仪-一六仪器有限公司(查看)

一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集，***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

X荧光镀层测厚仪标准片选择与使用

1．一般要求

使用可靠的参考标准块校准仪器。***后的测量不确定度直接取决于校准标准块的测量不确定度和测量精度。

参考标准块应具有的已知单位面积质量或厚度的均匀的覆盖层，如果是合金，则应知其组成。参考标准块的有效或限定表面的任何位置的覆盖层不能超过规定值的±5%.只要用于相同的组成和同样或已知密度的覆盖层，规定以厚度为单位（而不是单位面积质量）的标准块，将是可靠的。合金组成的测定，镀层分析仪，校准标准不需要相同，但应当已知。

金属箔标准片。如果使用金属箔贴在特殊基体表面作标准片，就必须注意确保接触清洁，无皱折纽结。任何密度差异，除非测量允许，否则必须进行补偿后再测。

2．标准块的选择

可用标准块的单位面积厚度单位校准仪器，膜厚测试仪，厚度值必须伴随着覆盖层材料的密度来校正。标准片应与被测试样具有相同的覆盖层和基体材料，但对试样基材为合金成分的，有些仪器软件允许标样基材可与被测试样基材不同，但前提是标准块基体材料与试样基材中的主元素相同。

3．标准块的X射线发射（或吸收）特性及使用

校正标准块的覆盖层应与被测覆盖层具有相同的X射线发射（或吸收）特性。

如果厚度由X射线吸收方法或比率方法确定，则厚度标准块的基体应与被测试样的基体具有相同的X射线发射特性，通过比较被测试样与校正参考标准块的未镀基体所选的特征辐射的强度，然后通过软件达到对仪器的校正。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

X射线荧光镀层厚度分析仪基本原理

X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对X射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是X射线荧光分析仪。由原子物理学的知识，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以其特有的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，这时原子被激发了，处于激发态。此时，其他的外层电子便会填补这一空位，即所谓的跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。

X射线荧光镀层厚度分析仪基本原理

由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的，称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征X射线的强弱（或者说X射线光子的多少）则代表该元素的含量。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪

X荧光光谱仪原理及应用领域

一、简单原理

每个元素受高能辐射激发，即发射出具有一定特征的X射线谱线。通过软件测试分析得出该谱线波长，即可知道是那种元素（定性）；通过分析测试其强度，得出该元素含量（定量）。X荧光光谱分析是一种非常常见的分析技术，

二、应用领域

X荧光光谱仪作为一种常见的分析技术手段，在现实生活中有着非常广泛的应用，主要可以分为以下四大类：

1.镀层行业

电镀行业尤其以工业电镀为主，杭州测厚仪，在工业生产中，通常我们为了产品尤其是金属类能达到一定的性能会在其表面镀上另一种金属，这种金属电镀的膜厚往往是受管控，而X荧光光谱仪就是其best的管控者。

2.***检测

我们的衣服帽子、喝水的杯子、小孩的玩具等等这些都跟我们有着紧密的关联，但这其中也许就含有对我们***是***的***，如Cr、Br、Cl、Pb、Hg、Cd、As等长期接触会导致***的病变甚至***，为了使用安全，工业生产时需对产品***检测管控（RoHS检测），而X荧光仪器就能对其进行监测。

3.元素成分分析

元素成分分析应用也是更加广泛，如岩石矿产的开发开采，钢铁、铜合金、铝合金等可能因某一种元素的含量不同就会大大改变其物理性质，为达到这种物理性质就需要控制相关元素的含量，通过X荧光仪器的检测就可以很好的生产出我们所需的物品，另外还可以利用成分分析原理对珠宝首饰进行真假鉴定。

4.古董的检测

X荧光仪器在古董的检测鉴定上也起着重要的作用，通过仪器检测对产品进行定性分析可得其元素成分，从而对产品的年限进行一个判断，得出结论。