金华镀层分析仪畅销***

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um

X荧光测厚仪相关注意事项：

　　仪器供电电压必须与仪器品牌上的电压一致.仪器三线插头必须连接到已接地的插座上。

　　本仪器为精密仪器,配备高精度的稳压电源.计算机应配备不间断电源(UPS)。

　　仪器应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。

　　为避免短路,严禁仪器与液体直接接触,如果液体进入仪器,请立即关闭仪器。

　　本仪器不能用于酸性环境和***场合。

　　不要弄脏和刮擦调校标准片,否则会造成读数错误。

　　不要用任何机械或化学的方法清除调校片上的脏物,可以用不起毛的布轻轻擦拭。

江苏一六仪器 X荧光光谱测厚仪 优点

X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统，结构简单。X射线激发源可用X射线发生器，也可用***性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器。探测器和记录等与X射线荧光光谱仪相同。

X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。5彩色CCD，变焦功能对焦方式高敏感镜头，手动对焦放大倍数：光学38-46X，数字放大40-200倍随机标准片：十二元素片、Ni/Fe5um、Au/Ni/Cu0。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。

江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪在电镀行业的应用

由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的，称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征X射线的强弱（或者说X射线光子的多少）则代表该元素的含量或厚度。

PCB线路板主要有镀金，镀镍，镀铜，镀银，镀锡等种类。其电镀工艺流程如下：

浸酸→全板电镀铜→图形转移→酸性除油→二级逆流漂洗→微蚀→二级浸酸→镀锡→二级逆流漂洗→浸酸→图形电镀铜→二级逆流漂洗→镀镍→二级水洗→浸柠檬酸→镀金→回收→2-3级纯水洗→烘干。

对于PCB生产企业来说，厚度的有效控制能做到有效的节约成本，又能满足客户需求，做到耐氧化、耐磨等。而X射线荧光镀层测厚法是PCB工业检测电镀厚度的有效手段。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。下面介绍一款x射线荧光膜厚测厚仪XTU-BL。利用XRF无损分析技术检测镀层厚度的仪器就叫X射线测厚仪，又膜厚测试仪，镀层检测仪，XRF测厚仪，PCB镀层测厚仪，金属镀层测厚仪等。X射线能同时实现多镀层厚度分析。在实际应用中，多采用实际相近的镀层标注样品进行比较测量（即采用标准曲线法进行对比测试的方法）来减少各层之间干扰所引起的测试精度问题。