测厚仪厂家多重优惠

一六仪器 X-RAY测厚仪研发生产厂家,欢迎来电咨询!

高精度测厚仪,多薄多复杂组合的镀层分析,一六仪器研发生产的仪器都能满足您的使用!

一六仪器提供的测厚仪可测试面积0.002mm?和80mm深槽的样品

测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，***测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。

测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。

⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。

⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。

⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。

⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。

一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪

一六仪器研发生产的X荧光光谱仪,稳定的多道脉冲分析采集系统,专利独特聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

涂层测厚仪操作规程有哪些

我们在使用涂层测厚仪时，如果不了解涂层测厚仪的操作规程，那么就很容易出现一些问题，甚至严重的可能会对自身产生威胁，那么涂层测厚仪的操作规程有哪些，下面就来了解下先：

一、技术参数

采用了磁性和涡流两种测厚方法。通过选择相应的测头，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；

测量范围：（0~1250）μm（F1、N1测头），F10测头可达10mm；

分辨率：0.1μm（F1、N1测头）

示值精度：±（3％H 1）μm；H为被测涂层厚度

显示方法：高对比度的段码液晶显示，高亮度EL背光；

存储容量：可存储20组（每组***多50个测量数值）测量数据

单位制：公制μm、英制（mil）、可自由转换 ? 工作电压：3V（2节5号碱性电池）

持续工作时间：大于200小时（不开背光灯）

通讯接口：USB1.1，可与PC机连接、通讯

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X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些

首先,是X射线的高压控制箱会对测量的精度造成一定的影响。X射线测厚仪的测量原理就是通过施加高压电源***出X射线,通过X射线的穿透物体时的衰减量来测量被测物体的厚度。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。但是高压控制箱的安装位置会对测厚仪的准确度造成一定的影响。安装的位置不当就会使测量的精度不准确波动比较明显。另外,X射线本身的衰减也会影响测厚仪的测量精度。