测厚仪-一六仪器-镀锌测厚仪

江苏一六仪器 X射线荧光光谱仪XTU/X-RAY系列

技术参数

X射线装置：W靶微聚焦加强型射线管

准直器φ 0.05 mm ；φ 0.1 mm；φ 0.2 mm；φ 0.5 mm； 准直器任意选择或者任意切换

***近测距光斑扩散度：9%

测量距离：具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)

样品观察：1/2.5彩色CCD，镀层测厚仪，变焦功能对焦方式高敏感镜头，手动对焦

放大倍数：光学38-46X，数字放大40-200倍

随机标准片：十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um

其它附件：联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪

一六仪器 X荧光光谱测厚仪

镀层分析X射线荧光光谱特点

1.镀层分析快速、无损，测厚仪，对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟，分析精度高。

2.可测试超薄的镀层。

3.可测试多镀层，分析精度远远高于其他测量方法。

4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定，选择合适的对比分析样品，漆膜测厚仪，就可以准确的分析出合金镀层的厚度。

5.对于样品可进行连续多点测量，适合分析镀层的厚度分布情况，并可以对样品的复杂面进行测量。

6.对分析的多镀层每层之间的材料，镀锌测厚仪，要求有明显的区别

7.不可以测试超厚样品，普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。

8.可以对***样品进行测试

9.属于对比分析仪器，测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

江苏一六仪器 X荧光光谱测厚仪 优点

X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统，结构简单。X射线激发源可用X射线发生器，也可用***性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器。探测器和记录等与X射线荧光光谱仪相同。

X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。

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