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能量色散X射线荧光光谱仪技术原理

江苏一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪 稳定的多道脉冲分析采集系统,专利独特聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

能量色散X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。

它由高压发生器和***管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。

能量色散X射线荧光光谱仪技术原理

能量色散X射线荧光光谱仪是一种波长较短的电磁辐射，凡间是指能t局限在0.1^-100keV的光子。能量色散X射线荧光光谱仪与物质的互相效果首要有荧光、接收和散射三种。

能量色散X射线荧光光谱仪是由物质中的构成元素发生的特征辐射，经过侧里和剖析样品发生的x射线荧光，即可获知样品中的元家构成，获得物质成分的定性和定量信息。

江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪研发生产厂 一六仪器一liu品质 可同时检测多层材料镀层厚度(含有机物)及成分.操作简单方便.厚度含量测试只需要几秒钟,欢迎来电咨询!

性能优势：

下照式设计：可以快速方便地***对焦样品。

无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

***率的jie shou qi：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

EFP***算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

激光测厚仪的技术指标介绍

激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更精准，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。2、关机:扫描仪：如遇突发事件，应立即按下急停开关，停止扫描。

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影响涂层测厚仪精准度的因素有哪些

影响涂层测厚仪精准度的因素有哪些？生产产品过程中，可能就因为一点点的误差，可能这批产品就成了报废品，而这种情况在批量生产的厂家中***为常见，也是***需要注意的一个点。因此我们也就得对影响涂层测厚仪精准度的因素有所了解了。

(4) 在系统校准时没有选择合适的基体。基体较***面为7mm，较小厚度为0.2mm，低于此临界条件测量是不可靠的。

(5)仪器发生故障。此时可以和技术人员交流或者返厂维修。