电镀层测厚仪-测厚仪-一六仪器(查看)

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，测厚仪，24种元素 厚度检出限:0.005um

镀层厚度分析仪根据测量原理一般有以下五种类型:

1.磁性测厚法

适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢、铁、银、镍。此种方法测量精度高。

2.涡流测厚法

适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低。

3.超声波测厚法

目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵，测量精度也不高。

4.电解测厚法

此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要***涂镀层。一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦。

5.***测厚法

此种仪器价格昂贵，适用于一些特殊场合。

江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪 一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度***di检出限：0.005um

性能优势

精密的三维移动平台

***的样品观测系统

***的图像识别

轻松实现深槽样品的检测

四种微孔聚焦准直器，覆层测厚仪，自动切换

双重保护措施，实现无缝防撞

采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度

全自动智能控制方式，一键式操作!

开机自动退出自检、复位

开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样

关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦

直接点击全景或局部景图像选取测试点

点击软件界面测试按钮，漆膜测厚仪，自动完成测试并显示测试结果

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

（一）、内部结构

X荧光光谱测厚仪机型很多，但是其内部结构如果先天不足，后期的外部结构无论自动化多高，也无法完全满足客户需求。内部结构重要的3点：

1、X荧光发射和CCD观测是否同步和垂直？

2、测试样品是否可以变化测头到样品的距离？

3、***照射面积从出口到样品的扩散情况。

（二）、各种内部结构的优缺点

1、X荧光发射和CCD观测样品只有同步且垂直才不会因为样品的高低深浅变化而改变测试到样品的位置，才能保证***精准，同时减少与探测器或计数器的夹角，夹角小测试时

受样品曲面或者倾斜影响小。

2、测试样品距离可变化才能测试高低不平带凹槽的样品工件，电镀层测厚仪，同时也兼顾好平面样品的测试。但是它需要配备变焦镜头和变焦

补偿射线的算法。

3、***照射面积从出口到样品的扩散过于严重会导致无法测试样品工件上较小的平面位置，如果减小出口（准直器直径），又会严重耗损***的强度。

因此一台此类仪器的小准直器不是关键，但是测试面积却是个***重要的指标。