一六仪器-膜厚仪

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膜厚仪也叫X射线测厚仪，它的原理是物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

江苏一六仪器 超微电子元器件芯片高精度镀层测厚仪

技术参数：

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度***di检出限：0.005um

***xiao测量面积:0.002m㎡

膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。

膜厚仪一般是测氧化膜层厚度，常见的铝基，膜厚仪，铜基氧化，测量时候用涂层测厚仪选择N（非磁性）探头，膜厚测试仪，这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。

涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理，配F合N探头，或者FN一体探头。氧化层一般是几微米到十几微米，但是普通的涂层测厚仪误差比较大，需要用高精度的涂层测厚仪测量氧化层，膜厚仪，比如中科朴道的PD-CT2涂层测厚仪就可以测量氧化层。

江苏一六仪器 PCB板材 线路板大板件类X荧光光谱测厚仪

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度***di检出限：0.005um

***xiao测量面积:0.002m㎡

膜厚仪的特点

　　1、自动对焦作用。配备激光自动对焦作用，能够准确对焦，提高量测效率。

　　2、具有焦点距离切换作用，适用于有凹凸的机器部件与电路板的底部进行量测

　　3、 膜厚仪 采用检量线法和FP法，两个准直器可自动切换，膜厚仪原理，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可防止在对焦时造成的损坏。

　　4、选用Mo靶材X射线管，量测***更灵敏。