一六仪器-膜厚仪

江苏一六仪器 超微电子元器件芯片高精度镀层测厚仪

技术参数：

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度***di检出限：0.005um

***xiao测量面积:0.002m㎡

膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。

膜厚仪一般是测氧化膜层厚度，常见的铝基，铜基氧化，测量时候用涂层测厚仪选择N（非磁性）探头，这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。

涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理，配F合N探头，膜厚仪，或者FN一体探头。氧化层一般是几微米到十几微米，厚膜仪，但是普通的涂层测厚仪误差比较大，需要用高精度的涂层测厚仪测量氧化层，fischer膜厚仪，比如中科朴道的PD-CT2涂层测厚仪就可以测量氧化层。

江苏一六仪器 线路板PC板类镀层分析通用型测厚仪

技术参数

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度***di检出限：0.005um

***xiao测量面积:0.002m㎡

对焦距离：0-90（测试凹槽，可变焦）

样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

膜厚仪的工作原理

涂镀层测厚仪的相关工作原理之近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制丈量信号。还采用专利设计的集成电路，引入微机，使丈量精度和重现性有了大幅度的进步(几乎达一个数目级)。现代的磁感应测厚仪，膜厚仪，分辨率达磁感应测厚仪_电涡流丈量原理_磁吸力丈量原理及测厚仪_电涡流原理的测厚仪到0.1um，答应误差达1%，量程达10mm。

江苏一六仪器 X射线涂镀层膜厚仪

膜厚仪的影响因素有哪些

1、基体金属磁性质

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。

2、基体金属电性质

基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。