测厚仪-一六仪器-测厚仪器

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，测厚仪，24种元素 厚度检出限:0.005um

X射线荧光光谱测厚仪 X射线的产生

X射线波长略大于0.5纳米的被称作软X射线。波长短于0.1纳米的叫做硬X射线。

产生X射线的***简单方法是用加速后的电子撞击金属靶。撞击过程中，电子突然减速，其损失的动能(其中的1%)会以光子形式放出，形成***光谱的连续部分，称之为制动辐射。通过加大加速电压，电子携带的能量增大，涂镀层测厚仪，则有可能将金属原子的内层电子撞出。于是内层形成空穴，测厚仪器，外层电子跃迁回内层填补空穴，同时放出波长在0.1纳米左右的光子。由于外层电子跃迁放出的能量是量子化的，所以放出的光子的波长也集中在某些部分，形成了***谱中的特征线，此称为特性辐射。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

X荧光测厚仪可调整测量位置，镀锌测厚仪，非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时，可连续自动测定，利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。

　　测定部显示尽像的表示：***照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置，可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。

江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪

产品配置

***金属镀层测厚仪标准配置为：X射线管，正比计数器﹨半导体探测器，高清摄像头，高度激光，信号检测电子电路。

性能指标

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管，Be窗

标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等

X射线管：管电压50KV，管电流1mA

可测元素：CI～U

检测器：正比计数管

样品观察：CCD摄像头

测定软件：薄膜FP法、检量线法

Z轴程控移动高度 20mm