一六仪器-膜厚仪

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计，测膜厚仪，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。

各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎咨询联系！

对于国内众多真空镀膜厂家而言，膜厚仪，需要在大批量的生产线上就能控制好镀膜产品的镀膜层厚度均匀性。那就需要使用膜厚测试仪，在真空镀膜生产线上实行连续监测，才能保证真空镀膜产品的质量，同时提高真空镀膜设备的在线生产效率，减少生产成本。由于真空镀铝薄膜上的镀铝层非常薄，因此通常都是需要使用光密度法膜厚测试仪来检测。光密度（OD）定义为材料遮光能力的表征。它用透光镜测量。光密度没有量纲单位，是一个对数值，通常仅对镀铝薄膜和珠光膜进行光密度测量。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。

镀饰，首饰类镀层分析通用型测厚仪

仪器配置

微聚焦X射线装置

信号放大器

微型移动滑轨

十二元素片

标准片Ni/Fe 5um

为什么膜厚仪有时测量不准确?

强磁场的干扰。我们曾做过一个简单实验，当仪器在1万V左右的电磁场附近工作时，测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。

江苏一六仪器 X射线电子元件膜厚仪

膜厚仪的影响因素有哪些

1、基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，膜厚仪，测量就不受基体金属厚度的影响。

2、边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

3、曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

4、试件的变形

测量头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。