光谱测厚仪畅销***,江苏一六仪器有限公司

能量色散X射线荧光光谱仪技术原理

江苏一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪

稳定的多道脉冲分析采集系统,专利独特聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

能量色散X射线的发生与特征当用高能电子束照耀样品时，人射高能电子被样品中的电子减速，这种带电拉子的负的加快度会发生宽带的延续X射线谱，简称为延续潜或韧致辐射。

另一方面，化学元素遭到高能光子或粒子的照耀，如内层电子被激起，则当外层电子跃迁时，就会***出特征X射线。

能量色散X射线是一种别离的不延续谱.假如激起光源为x射线，则受激发生的x射线称为二次X射线或X射线荧光。特征X射线显示了特征能量色散X射线荧光光谱仪发生的进程。

当人射x射线撞击原子中的电子时，如光子能量大于原子中的电子约束能，电子就会被击出。这一互相效果进程被称为光电效应，被打出的电子称为光电子。经过研讨光电子或光电效应可以取得关于原子构造和成键形态的信息。

X射线荧光的基本原理

镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪---一六仪器 欢迎咨询联系

X射线荧光是由原级X射线照射待测样品时所产生的次级X射线，入射的X射线具有相对较大的能量，使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。膜厚仪：属于测厚仪的一种，膜厚仪测量覆膜薄膜的厚度，手持式的有涂层测厚仪，为磁阻法和电涡流原理，台式的不同原理也有好多种，电感原理等。X射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间，能量在124KeV-0.124KeV之间。用于元素分析中的X射线荧光光谱波长的范围在0.01-11纳米之间，能量为0.111-0.124KeV。

当X射线激发出试样特征X射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。我们利用测厚仪测量是,会事先给测厚仪输入一个补偿值,让测量值与实际值相等。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。

一六仪器-------镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪

X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些

首先,是X射线的高压控制箱会对测量的精度造成一定的影响。X射线测厚仪的测量原理就是通过施加高压电源***出X射线,通过X射线的穿透物体时的衰减量来测量被测物体的厚度。应用在建筑行业中,近年来也是很广泛的,包括许多关于涂层的厚度检测环节都要用到的。但是高压控制箱的安装位置会对测厚仪的准确度造成一定的影响。安装的位置不当就会使测量的精度不准确波动比较明显。另外,X射线本身的衰减也会影响测厚仪的测量精度。