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江苏一六仪器有限公司是一家光谱分析仪器研发、生产、销售的企业。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。对X射线定义为：电子在原子核附近加速或核外内层电子能级间发生跃迁时所发射的电磁辐射。欢迎咨询联系！

如何选择测厚仪的测点

如何选择测厚仪的测点位置？我们想要使用测厚仪测量物品厚度，前提是有测点位置，相当于我们的需要选择一个固定点为零值一样，如此才能够测量出具体厚度。

1、钢结构柱、梁,在构件长度方向内每隔1m取一截面,测试构件各表面的涂层厚度,计算所有测点的平均值作为该根构件的涂刷厚度.

2、桁架结构、梁,在上、下弦和腹杆的长度方向内每隔1m取一个截面,测定杆件各表面的涂层厚度,计算所有测点的平均值作为该根构件的涂层厚度.顶板和钢楼梯,在每平方范围内选取5个点进行测定,计算所有测点的平均值作为该构件的涂层厚度.

X射线荧光的基本原理

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X射线荧光是由原级X射线照射待测样品时所产生的次级X射线，入射的X射线具有相对较大的能量，使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。X射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间，能量在124KeV-0.124KeV之间。用于元素分析中的X射线荧光光谱波长的范围在0.01-11纳米之间，能量为0.111-0.124KeV。由此可知测厚仪的测量精度有多么重要，因此，这次在这与大家分享下X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些:首先,是X射线的高压控制箱会对测量的精度造成一定的影响。

当X射线激发出试样特征X射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。如果已经进行了适当的校准，所有的测量值将保持在一定的误差范围内。

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X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些

第二,在X射线测厚仪通过施加高压释放出X射线时,X射线途经环境的温度湿度也会影响X射线对被测物体的测量。尤其是在热轧的过程中,测量的空间大X射线途经的环境就比较大,当温度高时,测量值减小,当温度低时,测量值则增加。

第三,在测量过程中,被测物体上,可能会有附着物,也会影响测量的精度。比如,在轧制生产中,测量的钢板上可能会附着着水、油或者氧化物,这都会对X射线测厚仪的测量值造成影响,出现误差。另外,被测量的物体,可能会上下跳动,偏离测量时的位置,这种倾斜也会影响测量的精度。在这个过程中,操作者首先对板材进行测量,但是操作者使用量尺的方式不同,就会造成补偿值的大小不等,会形***为的误差。