电镀膜厚仪量大从优“本信息长期有效”

能量色散X射线荧光光谱仪技术原理

江苏一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪

稳定的多道脉冲分析采集系统,专利独特聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

能量色散X射线的发生与特征当用高能电子束照耀样品时，人射高能电子被样品中的电子减速，这种带电拉子的负的加快度会发生宽带的延续X射线谱，简称为延续潜或韧致辐射。

另一方面，化学元素遭到高能光子或粒子的照耀，如内层电子被激起，则当外层电子跃迁时，就会放射出特征X射线。

能量色散X射线是一种别离的不延续谱.假如激起光源为x射线，则受激发生的x射线称为二次X射线或X射线荧光。特征X射线显示了特征能量色散X射线荧光光谱仪发生的进程。

当人射x射线撞击原子中的电子时，如光子能量大于原子中的电子约束能，电子就会被击出。这一互相效果进程被称为光电效应，被打出的电子称为光电子。经过研讨光电子或光电效应可以取得关于原子构造和成键形态的信息。

江苏一六仪器有限公司 X射线荧光光谱测厚仪

先进的技术，专业的团队，严格的企业管理是公司得以不断发展壮大、产品能够赢得客户信赖的根本所在。欢迎咨询联系！

性能优势：

下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002m㎡的样品，可测试各微小的部件。

一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪

仪器规格：

外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）

样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）

仪器重量 ：55kg

供电电源 ：交流220±5V

最da功率 ：330W

环境温度：15℃-30℃

环境相对湿度：lt;70%

测厚仪和膜厚仪一样吗

测厚仪和膜厚仪是不一样的，膜厚仪属于测厚仪的分类，也就是说测厚仪是膜厚仪的上司一样，对此我们也可以来了解下测厚仪跟膜厚仪的一些概念：

测厚仪按原理分类:激光测厚仪、超声波测厚仪、X射线测厚仪、压力测厚仪、白光干涉测厚仪、电解式测厚仪、机械接触式测厚仪。

测厚仪的原理：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。X射线荧光分析仪的不断完善和发展所带动的X射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、刑侦、考古等诸多部门和领域。