测厚仪-一六仪器有限公司-电镀膜厚仪

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

镀层厚度分析仪根据测量原理一般有以下五种类型:

1.磁性测厚法

适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢、铁、银、镍。此种方法测量精度高。

2.涡流测厚法

适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低。

3.超声波测厚法

目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵，测量精度也不高。

4.电解测厚法

此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要***涂镀层。一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦。

5.***测厚法

此种仪器价格昂贵，适用于一些特殊场合。

江苏一六仪器有限公司 ***镀层测厚检测 欢迎来电详询！

X射线荧光光谱分析可以非***性同时完成组分和厚度测试，厚度的测量范围视材料和元素而定，测厚仪，通常在1nm-50um之间。X射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较，被测元素的特征X射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关，而且与厚度直接相关。能量色散X射线荧光光谱分析相对其他分析方法，具有无需对样品进行特别的化学处理、快速，方便，测量成本低等明显优势，光谱分析仪，特别适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。是目前应用***为广泛，具有速度快、无损化以及可实现多镀层同时分析等特点。

X-RAY测厚仪特点

1，价格高，机种不同，价格在10万~100万左右，膜厚测试仪，可测试P（磷）~U（铀），并且支持Rohs及元素分析功能等。

2，无损检测，Windows操作系统，使用简便。操作快速，能适应多类镀层，电镀膜厚仪，大量检测，但体积较大，计算机除外约100000cm2，50000g左右。

3，测量厚度范围较广，

0.002um~100um左右，能测试5层以上膜厚，并且可以测量合金镀层，也可分析镀层元素和含量比。

4，测量精度高，1%左右，分辨率高，0.001um左右。

5，测头的面积较小，对需测的样品要求不高：0.1mmψ以下也可测量，基材厚度无要求。

6，可编程XYZ测量台及大移动范围。

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