光谱膜厚仪-绍兴测厚仪-江苏一六仪器有限公司

一六仪器X射线荧光测厚仪 研发生产厂家 品质保证

江苏一六仪器有限公司研发的能量色散X荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析，欢迎来电咨询！

测厚仪分类：1.X射线测厚仪 2.纸张测厚仪 3.薄膜测厚仪 4.涂层测厚仪 5.在线测厚仪 6.超声测厚仪 7.压力测厚仪 8.白光干涉测厚仪 9.电解式测厚仪 10.机械接触式测厚仪

　　X射线测厚仪：利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。 主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.

　

能量色散X射线荧光光谱仪技术原理

江苏一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪

稳定的多道脉冲分析采集系统，专利独特聚焦和变距设计，多元EFP算法，绍兴测厚仪，简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

能量色散X射线的发生与特征当用高能电子束照耀样品时，人射高能电子被样品中的电子减速，这种带电拉子的负的加快度会发生宽带的延续X射线谱，简称为延续潜或韧致辐射。

另一方面，化学元素遭到高能光子或粒子的照耀，如内层电子被激起，电镀测厚仪，则当外层电子跃迁时，就会***出特征X射线。

能量色散X射线是一种别离的不延续谱.假如激起光源为x射线，则受激发生的x射线称为二次X射线或X射线荧光。特征X射线显示了特征能量色散X射线荧光光谱仪发生的进程。

当人射x射线撞击原子中的电子时，如光子能量大于原子中的电子约束能，电子就会被击出。这一互相效果进程被称为光电效应，涂层测厚仪，被打出的电子称为光电子。经过研讨光电子或光电效应可以取得关于原子构造和成键形态的信息。

一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪

性能优势：

下照式设计：可以快速方便地***对焦样品。

无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

精密微型滑轨：快速精准***样品。

EFP***算法软件：多层多元素，光谱膜厚仪，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

如何安装X射线测厚仪

2) C型架按运行轨迹***，并作感观质量检查。

3) C型架落入导轨后，就进行冷却水管、压缩空气的软管及同轴电缆的连接。上述软管及电缆应顺着挠性履带的走向固定牢固。

4) 仪表柜、主控台，就地控制箱和前置放大器箱的安装，根据现场施工条件分头进行吊装。

5) 电缆敷设，除同轴电缆外还包括控制系统电缆和测量信号系统电缆。

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