膜厚仪-一六仪器-镀层膜厚仪

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电子元件测厚仪

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度***di检出限：0.005um

***xiao测量面积:0.002m㎡

对焦距离：0-90（测试凹槽，可变焦）

样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

仪器尺寸：550mm*480mm*470mm

仪器重量：55kg

影响膜厚仪测量的的客观因素

应力的影响。在役设备、管道大部分有应力存在，固体材料的应力状况对声速有一定的影响，当应力方向与传播方向一致时，镀层膜厚仪，若应力为压应力，膜厚检测仪，则应力作用使工件弹性增加，声速加快；反之，若应力为拉应力，则声速减慢。当应力与波的传播方向不一至时，膜厚仪波动过程中质点振动轨迹受应力干扰，波的传播方向产生偏离。根据资料表明，一般应力增加，声速缓慢增加。

江苏一六仪器 LED灯照明类镀层膜厚仪

膜厚仪的影响因素有哪些

1、表面粗糙度

基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

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X射线荧光镀层测厚仪

技术参数

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度***di检出限：0.005um

***xiao测量面积:0.002m㎡

对焦距离：0-90（测试凹槽，可变焦）

样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

仪器尺寸：550mm*480mm*470mm

仪器重量：55kg

仪器配置

微聚焦X射线装置

信号放大器

微型移动滑轨

十二元素片

标准片Ni/Fe 5um

标准片Au/Ni/Cu 0.1um/2um

红外测厚仪：

泛用于检测无机涂层、超薄涂层和复合薄膜的仪器，主要用于钢板上氧化表膜的厚度检测如SiO2、磷化物；薄膜上聚硅酮涂层厚度检测及复合薄膜的各层厚度检测等。

代表机型 : DJH系列 RX-210，RX-400

红外测厚仪特点

1、与X射线比较设备价格低；

2、测量厚度范围广， 0~40mm左右，但只能测试单层膜厚。3、测量误差大，膜厚仪，5%左右，分辨率0.1um以上。

4、测头的面积偏大，涂层膜厚仪，对需测的样品要求高：须有较大的平面用来测试（20mmψ左右），但可配备购买多种测头，面对不同的形状和材质需进行校正