一六仪器(在线咨询)-膜厚仪

江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪

微聚焦射线管、***的光路设计，膜厚仪，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品

技术参数

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度***di检出限：0.005um

***xiao测量面积:0.002m㎡

对焦距离：0-90（测试凹槽，可变焦）

样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

仪器尺寸：550mm*480mm*470mm

仪器重量：55kg

目前涂层测厚仪(膜厚仪）所采用的原理基本是以下几种：

1. ***性测厚法：利用射线穿透检测。此类仪器价格非常昂贵（一般在10万人民bi以上）。适用于一些特殊环境，各项技术参数要求相对比较高，使用范围相对狭窄。

2. 超声波测厚法：利用超声波频率变化检测。适用于多层涂层厚度的测量。一般价格昂贵，测量精度也不高，国内暂时还没有投入生产。

3. 微波激光测厚法：正在研发中。

4. 电解测厚法：需要***涂层，属于有损检测，基本上已弃用。

5. 涡流测厚法：利用涡流原理检测。适用于导电金属上的非导电层厚度测量。也就是我们一般所说的铝基膜厚仪。

6. 磁性测厚法：适用导磁是否会的非导磁层厚度测量。也就是我们一般所说的铁基膜厚仪，这种方法测量结果精度高。

目前国内的涂层测厚仪基本是采用涡流测厚法或磁性测厚法或二者相结合的原理。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。拥有***的技术，优质的良将，能够应付各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎来电咨询！

达克罗，电泳漆镀层检测分析仪

技术参数

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度***di检出限：0.005um

***xiao测量面积:0.002m㎡

膜厚仪检测的方法

国内外已普遍按统一的国际标准测定涂镀层厚度，膜厚测试仪，覆层无损检测的方法和仪器的选择随着材料物理性质研究方面的逐渐进步而更加至关重要。

有关覆层无损检测方法，主要有：楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线莹光法、β射线反射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中除了后五种外大多都要损坏产品或产品表面，系有损检测，测量手段繁琐，速度慢，膜厚仪，多适用于抽样检验。

江苏一六仪器 LED灯照明类镀层膜厚仪

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度***di检出限：0.005um

***xiao测量面积:0.002m㎡

膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。

膜厚仪一般是测氧化膜层厚度，常见的铝基，铜基氧化，测量时候用涂层测厚仪选择N（非磁性）探头，厚膜仪，这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。

膜厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。