测厚仪-一六仪器-涂层测厚仪

江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪

仪器简介

XTU系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。

搭配微聚焦射线管和***的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。

检测78种元素镀层·0.005um检出限·测量面积可达0.002mm2·***深凹槽可达90mm。

外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的样品测试都没有难度，让操作人员轻松自如。

线路板、引线框架及电子元器件接插件检测

镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

手表、精密仪表制造行业

钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB

汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

电镀液的金属阳离子检测

一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集，***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，涂层测厚仪，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

在我们的售前服务工作中，客户通常都会拿一些在其它机构或者仪器测量过的样品来与我们仪器进行测试结果对比，在确认双方仪器都是正常的情况下，会存在或多或少的差异，那么我们务必要把这个差异的来源分析给客户，我们在分析之前首先要给客户解说测试的基本原理，告知此仪器为对比分析测试仪器，然后再谈误差来源，主要来源：

1、标样：对比分析仪器是要求有越接近于需测试样品的标样，测试结果越接近实际厚度。确认双方有没有在标定和校正时使用标样？使用的是多少厚度的标样？

2、样品材料的详细信息：如Ni/Cu的样品，如果一家是按化学Ni测试，一家是按纯Ni测试；Au/Ni/Cu/PCB样品，镀层测厚仪，一款仪器受Br干扰，一款仪器排除了Br干扰。

3、测量位置、面积：确定在同一样品上测试的是否同一位置，因为样品在电镀时因电位差不同，各部位厚度是有差异的；确认两款仪器测量面积的大小有多少差异。

4、样品形状：测量的样品是否是两款仪器都可测量，或者放置位置是否合适，如突出面有无挡住设备接收。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

目前，金属镀层常用的分析方法有湿化学电解分析、辉光放电---发射光谱分析（GD-OES）和X射线荧光光谱仪等。湿化学电解分析需选用适当溶剂溶解选定的镀层，逐层溶解并进行测定，方法准确但费时费力，尤其是相关特定溶剂的选择也非常复杂，价格又贵，属于典型***性样品检测，测厚仪，测量手段手段繁琐，电镀测厚仪，速度慢，电解液耗损大，目前一般很少应用。GD-OES方法用惰性原子逐层轰击及剥离试样表层，再用发射光谱测定，这种方法可实现剖面或逐层分析，但测量重复性并不理想。