膜厚仪原理-一六仪器-膜厚仪

江苏一六仪器 LED灯照明类镀层膜厚仪

膜厚仪的影响因素有哪些

1、表面粗糙度

基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪

微聚焦射线管、***的光路设计，以及变焦算法装置，膜厚仪原理，可测试极微小和异形样品

技术参数

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度***di检出限：0.005um

***xiao测量面积:0.002m㎡

对焦距离：0-90（测试凹槽，膜厚仪，可变焦）

样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

仪器尺寸：550mm*480mm*470mm

仪器重量：55kg

目前涂层测厚仪(膜厚仪）所采用的原理基本是以下几种：

1. ***性测厚法：利用射线穿透检测。此类仪器价格非常昂贵（一般在10万人民bi以上）。适用于一些特殊环境，各项技术参数要求相对比较高，使用范围相对狭窄。

2. 超声波测厚法：利用超声波频率变化检测。适用于多层涂层厚度的测量。一般价格昂贵，测量精度也不高，国内暂时还没有投入生产。

3. 微波激光测厚法：正在研发中。

4. 电解测厚法：需要***涂层，属于有损检测，基本上已弃用。

5. 涡流测厚法：利用涡流原理检测。适用于导电金属上的非导电层厚度测量。也就是我们一般所说的铝基膜厚仪。

6. 磁性测厚法：适用导磁是否会的非导磁层厚度测量。也就是我们一般所说的铁基膜厚仪，膜厚仪，这种方法测量结果精度高。

目前国内的涂层测厚仪基本是采用涡流测厚法或磁性测厚法或二者相结合的原理。

江苏一六仪器 线路板PC板类镀层分析通用型测厚仪

技术参数

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度***di检出限：0.005um

***xiao测量面积:0.002m㎡

对焦距离：0-90（测试凹槽，可变焦）

样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

膜厚仪的工作原理

涂镀层测厚仪的相关工作原理之近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制丈量信号。还采用专利设计的集成电路，引入微机，使丈量精度和重现性有了大幅度的进步(几乎达一个数目级)。现代的磁感应测厚仪，分辨率达磁感应测厚仪_电涡流丈量原理_磁吸力丈量原理及测厚仪_电涡流原理的测厚仪到0.1um，答应误差达1%，量程达10mm。