镀层测厚仪-一六仪器(在线咨询)-测厚仪

一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集，***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um***xiao测量面积0.002m㎡ ***深凹槽20mm以上

镀层厚度分析仪使用注意事项

1．仪器供电电压必须与仪器铭牌上的电压一致。仪器必须使用三线插头连到一个已接地的插座上。

2．镀层厚度分析仪为精密仪器，建议配备高精度的稳压电源。计算机和仪器应配备不间断电源（UPS）。

3．镀层厚度分析仪应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。

4．仪器适合在10~40℃（50~104℉）的环境温度下操作使用，测厚仪，在0~50℃（32~122℉）的温度下存放。操作和存放的允许湿度范围在0~65%之间（非冷凝）。在操作过程中，环境温度和湿度应保持恒定。

5．仪器曝晒在阳光下时温度极易超过50℃。所以请不要在这样的环境下操作和存放仪器，以避免高温对仪器造成损害。

6．为避免短路，严禁仪器与液体直接接触。如果液体进入仪器，请立刻关闭仪器并在重新使用前请技术人员整体检查仪器。

7．镀层厚度分析仪不能用于酸性环境和***场合。

8．不要弄脏和刮擦元素片或调校标准片，否则会造成读数错误。

9．不要用任何机械或化学的方法清除元素片或调校标准片上的污物。如果必要的话，可以用一块不起毛的布轻轻擦除脏物。

江苏一六仪器 X荧光光谱测厚仪 ***涂镀层测厚

应用领域：广泛应用于线路板、引线框架及电子元器件接插件检测、镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析、手表、精密仪表制造行业、

钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB、汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测、卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)、电镀液的金属阳离子检测。

一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集，***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，镀锌测厚仪，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

X荧光镀层测厚仪标准片选择与使用

1．一般要求

使用可靠的参考标准块校准仪器。***后的测量不确定度直接取决于校准标准块的测量不确定度和测量精度。

参考标准块应具有的已知单位面积质量或厚度的均匀的覆盖层，如果是合金，则应知其组成。参考标准块的有效或限定表面的任何位置的覆盖层不能超过规定值的±5%.只要用于相同的组成和同样或已知密度的覆盖层，规定以厚度为单位（而不是单位面积质量）的标准块，将是可靠的。合金组成的测定，校准标准不需要相同，但应当已知。

金属箔标准片。如果使用金属箔贴在特殊基体表面作标准片，就必须注意确保接触清洁，薄膜测厚仪，无皱折纽结。任何密度差异，除非测量允许，否则必须进行补偿后再测。

2．标准块的选择

可用标准块的单位面积厚度单位校准仪器，厚度值必须伴随着覆盖层材料的密度来校正。标准片应与被测试样具有相同的覆盖层和基体材料，但对试样基材为合金成分的，有些仪器软件允许标样基材可与被测试样基材不同，但前提是标准块基体材料与试样基材中的主元素相同。

3．标准块的X射线发射（或吸收）特性及使用

校正标准块的覆盖层应与被测覆盖层具有相同的X射线发射（或吸收）特性。

如果厚度由X射线吸收方法或比率方法确定，则厚度标准块的基体应与被测试样的基体具有相同的X射线发射特性，通过比较被测试样与校正参考标准块的未镀基体所选的特征辐射的强度，然后通过软件达到对仪器的校正。