厚膜仪-膜厚仪-一六仪器(查看)

江苏一六仪器 LED灯照明类镀层膜厚仪

性能优势：

下照式设计：可以快速方便地***对焦样品。

无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

jie shou qi ：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

精密微型滑轨：快速精准***样品。

EFP***算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

磁感应原理测厚仪磁感应原理是利用测头经过

非铁磁覆层而流入铁基材的磁通大小来测定覆层厚度的，覆层愈厚，磁通愈小。由于是电子仪器，校准容易，可以实多种功能，扩大量程，提高精度，由于测试条件可降低许多，膜厚仪，故比磁吸力式应用领域更广。当软铁芯上绕着线圈的测头放在被测物上后，仪器自动输出测试电流，磁通的大小影响到感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。早期的产品用表头指示，精度和重复性都不好，后来发展了数字显示式，电路设计也日趋完善。

江苏一六仪器 ***涂层镀层厚度检测 解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

微聚焦射线管、***的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品

技术参数

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度***di检出限：0.005um

***xiao测量面积:0.002m㎡

对焦距离：0-90（测试凹槽，可变焦）

样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

仪器尺寸：550mm*480mm*470mm

仪器重量：55kg

合金由两种或两种以上的金属或金属与非金属经一定方法所合成的具有金属特性的物质。一般通过熔合成均匀液体和凝固而得。根据组成的元素的数目，可分为二元合金，三元合金以及多元合金。根据结构的不同，合金主要分为以下几种类型：(1)混合物合金（共熔混合物），当液态合金凝固时，构成合金的各组分分别结晶而成的合金，如焊锡、铋镉合金等；(2)固熔体合金，当液态合金凝固时形成固溶体的合金，如金银合金等；(3)金属互化物合金，各组分相互形成化合物的合金，如铜、锌组成的黄铜（β-黄铜、γ-黄铜和ε-黄铜）等。一般来说各类型的合金都有以下通性：(1)多数合金熔点低于其组分中任一种组成金属的熔点；(2)硬度比其组分中任一金属的硬度大；(3)合金的导电性和导热性低于任一组分金属。利用合金的这一特性，可以制造高电阻和高热阻材料。还可制造有特殊性能的材料，如在铁中掺入15％铬和9％镍得到一种耐腐蚀的不锈钢，适用于化学工业。(4)有的抗腐蚀能力强(如不锈钢)。由于合金具有许多优于纯金属的特性，故在实际生产，生活的材料应用中大多使用合金材料。并且为便于合金材料的使用，世界各国均根据本国的实际情况对合金材料依据其所具有的物理性能（如比重、熔点、导电性、导热性、热膨胀性、磁性等）、化学性能（耐用腐蚀性），力学性能（机械性能）制定了符合本国实际应用的合***号。在实际应用中，设计师只需要根据设计需要选用适当牌号的合金材料即可。通常在合金生产和使用过程中，我们均需要对合***号进行甄别，以便于对生产和使用的管理。传统的我们对用合***号的鉴别是采用化学方法（如化学滴定，碳硫分析仪）等进行测量，测膜厚仪，将测量值与合***号中的规定值进行对比后确定。在这里，我们系统介绍了AAS，ICP，CS和XRF在合金行业的应用。我司生产的XTU系列X射线荧光光谱分析仪，利用X射线激发元素特征能谱，并对特征能谱进行侦测的原理，真正实现了对合金材料的快速，无损的检验。并且该型号光谱分析仪配备了多种类型的合***号库，在元素鉴别的同时，即对合金的牌号进行了相应分析。

江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪

微聚焦射线管、***的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品

技术参数

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度***di检出限：0.005um

***xiao测量面积:0.002m㎡

对焦距离：0-90（测试凹槽，可变焦）

样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

仪器尺寸：550mm*480mm*470mm

仪器重量：55kg

目前涂层测厚仪(膜厚仪）所采用的原理基本是以下几种：

1. ***性测厚法：利用射线穿透检测。此类仪器价格非常昂贵（一般在10万人民bi以上）。适用于一些特殊环境，fischer膜厚仪，各项技术参数要求相对比较高，使用范围相对狭窄。

2. 超声波测厚法：利用超声波频率变化检测。适用于多层涂层厚度的测量。一般价格昂贵，测量精度也不高，厚膜仪，国内暂时还没有投入生产。

3. 微波激光测厚法：正在研发中。

4. 电解测厚法：需要***涂层，属于有损检测，基本上已弃用。

5. 涡流测厚法：利用涡流原理检测。适用于导电金属上的非导电层厚度测量。也就是我们一般所说的铝基膜厚仪。

6. 磁性测厚法：适用导磁是否会的非导磁层厚度测量。也就是我们一般所说的铁基膜厚仪，这种方法测量结果精度高。

目前国内的涂层测厚仪基本是采用涡流测厚法或磁性测厚法或二者相结合的原理。