膜厚仪-一六仪器-膜厚仪原理

江苏一六仪器 线路板PC板类镀层分析通用型测厚仪

微聚焦射线管、***的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品

技术参数

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度***di检出限：0.005um

***xiao测量面积:0.002m㎡

对焦距离：0-90（测试凹槽，可变焦）

样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

仪器尺寸：550mm*480mm*470mm

仪器重量：55kg

业内认可的常用方法

一、磁性式

1，价格经济，约1千~2万，具体材料的差别需另外购买测头，且镀膜的种类有限制。

2，无损检测，使用简便，方便检测大型的工件，体积小，约400cm2，300g左右。

3，测量厚度范围广，非金属2~2000um左右，金属镀层2~40um左右，但只能测试单层膜厚。

4，测量误差大，5%左右，分辨率低，厚膜仪，1um左右。

5，测头的面积偏大，对需测的样品要求高：须有较大的平面用来测试（7mmψ左右），基材厚度在0.35mm以上，而且面对不同的形状和材质都需进行校正

二、涡电流式

三、红外测厚仪

四、电解式（库伦法）

五、金相测试法

六、非***荧光式（***）

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，测膜厚仪，经与海内外多名***通力合作，膜厚仪原理，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。

LED灯照明类镀层膜厚仪

技术参数

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，膜厚仪，24种元素

厚度 di 检出限：0.005um

xiao测量面积:0.002m㎡

1.系统误差的来源

(1)标样和试样中的含量和化学组成不完全相同时，可能引起基体线和分析线的强度改变，从而引入误差。

(2)标样和试样的物理性能不完全相同时，激发的特征谱线会有差别从而产生系统误差。

(3)浇注状态的钢样与经过退火、淬火、回火、热轧、锻压状态的钢样金属***结构不相同时，测出的数据会有所差别。

(4)未知元素谱线的重叠干扰。如熔炼过程中加入脱氧剂、除硫磷剂时，混入未知合金元素而引入系统误差。

(5)要消除系统误差，必须严格按照标准样品制备规定要求。为了检查系统误差，就需要采用化学分析方法分析多次校对结果。

　江苏一六仪器 达克罗、电泳漆类镀层检测分析膜厚仪

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度***di检出限：0.005um

***xiao测量面积:0.002m㎡

对焦距离：0-90（测试凹槽，可变焦）

样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

仪器尺寸：550mm*480mm*470mm

仪器重量：55kg

在膜厚测定中的能谱表示：由多频分析器可快速处理能谱分析。可执行测定物的能谱分析表示，操作简单，资料处理的速度快。

　　充实测量报告的作成机能：采用WINDOW软件，测定画的撷取，非常简便，可充衬测量报告的制作机能。

　　测定物膜厚附著分布表示：以三次元图案来表示测定物膜厚附著状态的分布，作判定时一目了然。。。。